基于电路分块方法的超大规模集成电路测试技术 test method for vlsi based on circuit partitioning.pdfVIP

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基于电路分块方法的超大规模集成电路测试技术 test method for vlsi based on circuit partitioning

己口l口年1月 ——一 第己g卷第1期徽黼黼㈣篓徽霪黼薅静鞭溪黼麟§鬻溺黼叠I≮.、弟已g吞弟I且月徽黼黼㈣篓徽霪黼薅静鞭黼≤g麟§鬻溺黼褂o.、。土里理 一 基于电路分块方法的超大规模集成电路测试技术 胡哲纲谈恩民 (桂林电子科技大学 桂林541004) 摘要:随着集成电路工艺和规模的飞速发展,使得VLsl测试变得日益困难,因此测试技术成为VLSI领域的一个重要研究 算法将原始电路划分为若干子块有利于采用不同BIsT结构对子块进行测试,使得一定时间内电路翻转次数降低,而功耗也 随之降低;通过比较并行BIST和扫描BIsT的实验结果,发现并行BIST获得的系统故障覆盖率高于扫描BIST。 关键词:分块;超图分解;并行遗传算法;内建自测试 中图分类号:TN7lO.9文献标识码:A TestmethodforVLSIbasedoncircuit partitioning Hu TanEnmin Zhegang (Guilin ofE1ectronic 541004,China) University TechnOlogy,Guilin of circuit andscale,VLSIbecamemoreandmorediffi— Abstr舵t:Withrapiddevelopmentintegratedtechn0109y testing cult.Sothetest becameoneofthe inVLSI This introducedseveralkindsof techn0109y importantproblem aera. paper circuit onthebasisof thebottleneckofVLSI the of partitioningalgorithm analying problem test,andanalysednecessity circuit forVLSItest.The consistsin the circuitintosubcircuitsso partitioningalgorithm strategy partitioningoriginal thateachsubcircuitcanbe tested differentBISTscheme.The inatimeintervalas successicelythrough switchingactivity weUas arereduced.Theresultsshowthatthefault obtainedwiththe BISTschemeis power coverage parallel higher thanthe BIST scan—basedBIST two architectures. bycomparing Keywords:partitioning;hypergraphpartitioning;paraIIeIgeneticalgorithms;BIST O引言 电路测试中,将一个规模比较大的电路分成若干小块,称 随着系统集成度和工艺技术的飞速

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