基于灰关联熵的模拟电路测试点优选算法 algorithm of selecting optimal test point for analog circuit based on grey relational entropy.pdfVIP

第23卷第9期 电子测量与仪器学报 场￡23No．9 2009年9月 JoURNALoFELECTRoNlcMEASUREMENTANDlNsTRUMENT · 27 · 基于灰关联熵的模拟电路测试点优选算法 黄亮侯建军 刘 颖 李赵红 (北京交通大学电子信息工程学院，北京100044) 摘要：选择最佳测试点是电路故障诊断的重要课题。将模拟电路看作灰色系统，对模拟电路进行灰关联熵分析，利用灰 熵关联度量化测试点与故障元件之间的关联程度，从而得到故障诊断的最佳测试点。通过两个典型电路的实例表明，将灰关联 熵分析用于测试点优选，具有算法简单、所需样本少、结果明确等优点，保证了测试点选择的客观性。 关键词：测试点；灰关联熵；故障诊断；灰关联分析；模拟电路 中图分类号：TP206+．3文献标识码：A 国家标准学科分类代码：510．1010 of test for circuitbased Algorithmselect