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ISO 1302 表面粗糙度、波纹度、原始轮廓讲义课件.ppt

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ISO 1302 表面粗糙度、波纹度、原始轮廓讲义课件

国外标准宣讲;第一讲 ISO1302;产品几何规范(GPS) Geometrical Product Specifications(缩写) ;1、《表面结构》概述 ;帜辜翁简务檀抱嚏守筏宣啮女醚挨葵陷源非蔚性法喀睦苹绞漾羹依诬猪忆ISO 1302 表面粗糙度、波纹度、原始轮廓讲义课件ISO 1302 表面粗糙度、波纹度、原始轮廓讲义课件;(1)表面粗糙度的形成 它主要是由所采用的加工方法形成的。如在切削过程中工件加工表面上的刀具痕迹以及切削撕裂时的材料塑性变形等。(微观) (2)表面波纹度的形成 由机床或工件的绕曲、振动、颤动、形成材料应变的各种原因以及其它一些外部影响等原因。(介于微观与宏观之间) (3)表面几何形状的形成 一般由机器或工件的绕曲或导轨误差引起(见图2)。(宏观) ;轮廓参数: --- R轮廓(粗糙度参数) --- W轮廓(波纹度参数) --- P轮廓(原始轮廓参数);表面轮廓 surface profile 平面与实际表面相交所得的轮廓(见图2) 注:实际上,通常采用一条名义上与实际表面平行和在一个适当方向的法线来选择一个平面。;3.1.5 原始轮廓 primary profile 在应用短波长滤波器λs之后的总的轮廓。 注:原始轮廓是评定原始轮廓参数的基础。 3.1.6 粗糙度轮廓 roughness profile 粗糙度轮廓是对原始轮廓采用λc滤波器抑制长波成分以后形成的轮廓。这是故意修正的轮廓(见图1)。 注 1 粗糙度轮廓的传输频带是由λs和λc轮廓滤波器来限定的。 2 粗糙度轮廓是评定粗糙度轮廓参数的基础。 3 λc和λs之间的关系本标准不做规定。;3.1.7 波纹度轮廓waviness profile 波纹度轮廓是对原始轮廓连续应用λf和λc两个滤波器以后形成的轮廓。采用λf滤波器抑制长波成分,而采用λc滤波器抑制短波成分。这是故意修正的轮廓。 注 l 在运用分离波纹度轮廓的λf,滤波器以前.应首选通过最小二乘法的最佳拟合从总轮廓中提取标称的形状。对于 圆的标称形式,建议将半径也包含在最小二乘的优化计算中,而不是保持固定的标称值。这个分离波纹度轮廓的 过程限定了理想的波纹度运算操作。 2 波纹度轮廓的传输频带是由λf和λc轮廓滤波器来限定的。 3 波纹度轮廓是评定波纹度轮廓参数的基础。;表面结构的符号;2. 扩展图形符号 expanded graphical symbol 表示对表面结构有指定要求(去除材料或不去除材料)的图形符号,简称扩展符号(见图2)。 a表示去除材料的 b 表示不去除材料的 扩展图形符号 扩展图形符号 图2;基本符号的定义;3. 完整图形符号 complete graphical symbol;4 工件轮廓各表面的图形符号 ;注:图示的表面结构符号是指对图形中封闭轮廓的六个面的共同要求(不包括前后面)。 图4 对周边各面有相同的表面结构要求的注法 ;三、 表面结构完整图形符号的组成 ;2 表面结构补充要求的注写位置;位置a 注写表面结构的单一要求; 位置a和b 注写两个或多个表面结构要求; 位置c 注写加工方法; 位置d 注写表面纹理和方向; 位置e 注写加工余量.;表面结构的补充要求包括: ---- 表面结构参数代号 ---- 数值 ---- 传输带/取样长度;3.1.9 取样长度sampling length lp、lr、lw 用于判别被评定轮廓的不规则特征的X轴向上的长度。 注:评定长度粗糙度和渡纹度轮廓的取样长度lr和lw在数值上分别与轮廓滤波器λc和λf的标志波长相等。原始 轮廓的取样长度lp则与评定长度相等。 3.1.10 评定长度 evaluation length ln 用于判别被评定轮廓的x轴方向上的长度。 注:评定长度包含一个或和几个取样长度。;3.2 几何参数的术语 3.2.1 P一参数P parameter 从原始轮廓上计算所得的参数。 3.2.2 R一参数 R parameter 从粗糙度轮廓上计算所得的参数。 3.2.3 W参数 W parameter 从波纹度轮廓上计算所得的参数。 注:在第4章中定义的参数可从任何轮廓中算得,参数符号中的第一个大写字母表示被评定轮廓的类型。例如:Ra是从粗糙

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