应变片单臂、半桥、全桥性能实验课件.ppt

应变片单臂、半桥、全桥性能实验;实验目的;基本原理;1、应变片的电阻应变效应;当导体因某种原因产生应变时，其长度L、截面积A和电阻率ρ的变化为dL、dA、dρ相应的电阻变化为dR。对式全微分得电阻变化率 dR/R为：;2、应变灵敏度;(2)半导体的应变灵敏度：;3、贴片式应变片应用;4、箔式应变片的基本结构;5、测量电路;（a）单臂 Uo＝U①－U③ 　 ＝〔(R1＋△R1)／(R1＋△R1＋R5)－R7／(R7＋R6)〕E 　 ＝｛〔（R7＋R6）（R1＋△R1）－R7（R5＋R1＋△R1）〕／ 〔（R5＋R1＋△R1）（R7＋R6）〕｝E 　设 R1＝R5＝R6＝R7，且△R1／R1＝ΔR／R＜＜1，ΔR／R＝Kε，K为灵敏度系数。 　则 Uo≈(1／4)(△R1／R1)E＝(1／4)(△R／R)E＝(1／4)KεE;6、箔式应变片单臂电桥实验原理图;7、应变片半桥特性实验原理图;8、应变片全桥特性实验原理图;三、需用器件与单元;四、实验步骤;1、将托盘安装到传感器上;2、测量应变片的阻值;3、实验模板中的差动放大器调零;4、应变片单臂电桥实验;表1 应变片单臂电桥性能实验数据;6、应变片半桥性能实验;表2 应变片半桥实验数据;8、应变片全桥性能实验;表3 全桥性能实验数据;五、思考题