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2017-08-13 发布于上海
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片式电感器筛选方法 analysis of screening scheme for chip inductors.pdf

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片式电感器筛选方法 analysis of screening scheme for chip inductors

电子工艺技术第29卷第5期 ElectronicsProcess 2008年9月 Technology 片式电感器筛选方法肖倩1，丁晓鸿1，贾颖2，於斌1。 (1．深圳振华富电子有限公司，广东深圳518109； 2．北京航空航天大学可靠性工程研究所，北京100191) 摘要：概述了电感器的发展历程，重点介绍模压片式电感器、叠层片式电感器的结构特点，以及工艺条件对固有可靠性的影响，并对以上两种类型电感器主要失效模式及其失效机理进行了简要分析，针对电感器三种主要失效模式：电性能参数退化、开路、短路，设计了模压片式和叠层片式电感器的筛选方案，并取得一定效果。关键词：片式电感器；失效模式；失效机理；筛选中图分类号：TN606 文献标识码：A of Schemefor Inductors AnalysisScreening Chip XIAO Binl Qianl，DINGXiao—hong’，JIAYin92，YU Electronics ZhenhuaFerriteCeramic (1．Shenzhen Co．，Ltd，Shenzhen518109，Chil噙； 2．BeihangUniversity，Beijing100191，China) thestructuralcharon- summarizesthe oftIIe on Abstract：This induetors，focuses paper development of inductorsand of conditionson teristiesthemolded multilayerchipinduetors，andimpactprocess chip inherent brief wasmadeonthemainfailuremodeandfailuremechanismofthe the reliability．Aanalysis two ofinductorsmenfoned tothethreemairlfailure types above．According mode，electricperformance circuitandshort a schemeforthemoulded parameterdegradation，open eircuit，wedesignedscreening induetonand obtainedthecertaineffect． chip muhilayerchipinductors，and mode；Failure Keyword