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晶体的缺陷2.5
2.6 非化学计量化合物 实际的化合物中,有一些化合物不符合定比定律,负离子与正离子的比例并不是一个简单的固定的比例关系,这些化合物称为非化学计量化合物。 非化学计量化合物的特点: 1)非化学计量化合物产生及缺陷浓度与气氛性质、压力有关; 2)可以看作是高价化合物与低价化合物的固溶体; 3)缺陷浓度与温度有关,这点可以从平衡常数看出; 4)非化学计量化合物都是半导体。 半导体材料分为两大类:一是掺杂半导体,如Si、Ge中掺杂B、P,Si中掺P为n型半导体;二是非化学计量化合物半导体,又分为金属离子过剩(n型)(包括负离子缺位和间隙正离子)和负离子过剩(p型)(正离子缺位和间隙负离子) 一、由于负离子缺位,使金属离子过剩 TiO2、ZrO2会产生这种缺陷,分子式可写为TiO2-x, ZrO2-x,产生原因是环境中缺氧,晶格中的氧逸出到大气中,使晶体中出现了氧空位。 缺陷反应方程式应如下: 根据质量作用定律,平衡时,[e’]=2[ ] : 1)∴TiO2的非化学计量对氧压力敏感,在还原气氛中才能形成TiO2-x。烧结时,氧分压不足会导致 升高,得到灰黑色的TiO2-x,而不是金黄色的TiO2。 2) 电导率随氧分压升高而降低。 3)若PO2不变,则 TiO2-x结构缺陷示意图(I) 二、由于间隙正离子,使金属离子过剩 Zn1+x和Cdl+xO属于这种类型。过剩的金属离子进入间隙位置,带正电,为了保持电中性,等价的电子被束缚在间隙位置金属离子的周围,这也是一种色心。例如ZnO在锌蒸汽中加热,颜色会逐渐加深,就是形成这种缺陷的缘故。 由于间隙正离子,使金属离子过剩型结构(II) 缺陷反应可以表示如下: 或 按质量作用定律 间隙锌离子的浓度与锌蒸汽压的关系为; 如果Zn离子化程度不足,可以有 (此为一种模型) 上述反应进行的同时,进行氧化反应: (此为另一种模型) 则 三、由于存在间隙负离子,使负离子过剩 具有这种缺陷的结构,目前只发现UO2+x,可以看作U2O8在UO2中的固溶体,具有这样的缺陷。当在晶格中存在间隙负离子时,为了保持电中牲,结构中引入电子空穴,相应的正离子升价,电子空穴在电场下会运动。因此,这种材料是P型半导体。 由于存在间隙负离子,使负离子过剩型的结构(III) 对于UO2+x。中的缺焰反应可以表示为: 等价于: 根据质量作用定律 又 [h●]=2[Oi’’] 由此可得: [Oi’’]∝PO21/6。 四、由于正离子空位的存在,引起负离子过剩 Cu2O、FeO属于这种类型的缺陷。以FeO为例 缺陷的生成反应: 等价于: 从中可见,铁离子空位本身带负电,为了保持电中性;两个电子空穴被吸引到这空位的周围,形成一种V一色心。 根据质量作用定律 [OO●]≈1 [h●]=2[VFe’’] 由此可得: [h●]∝PO21/6 随着氧压力的增大,电子空穴浓度增大,电导率也相应增大。 由于正离子空位的存在,引起负离子过剩型结构缺陷(IV) 小结:非化学计量缺陷的浓度与气氛的性质及大小有关,也与温度有关。以非化学计量的观点来看问题,世界上所有的化合物,都是非化学计量的,只是非比学计量的程度不同而已。 小结:四类非化学计量化合物之代表物 化学式(固溶式) 举例如下:(1mol基体对应x mol置换离子) ① 向1mol 中掺入x mol 发生置换反应: 的化学式: (x mol 提供x mol的钙离子,置换了x mol的锆离子,并由于置换离子的价数不同,在基体中造成了x mol氧空位) 电中性原则检验: ② 向1mol 中掺入 发生反应: 与① 的不同之处在于: 一部分钙离子置换了锆离子
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