集成电路测试仪使用说明书.DOC

ICT-33C 集成电路测试仪 操 作 指 南 北京无线电仪器厂 电话：010操 作 指 南 目录 一、操作指南 1．开箱验机 2．操作部件介绍 3．测试电压选择 4．基本操作 5．编程操作 6．缓冲区编辑 7．微机通讯操作 8．其它操作 9．查看软件版本编号 10．操作注意事项 二、产品介绍 1．工作原理 2．系统主要构成 3．主要参数 4．功能综述 5．适用范围 6．测试容量 7．软件升级 三、维护保养 四、售后服务 五、测试容量清单 重要提示： 1．本机使用220V±15%、50HZ交流电源。 2．当用本机对EEPROM、串行EEPROM、FLASH ROM、单片机片内ROM器件进行好坏判别或写入时，将会改变被测器件内部的数据，因此对正在使用中的这类器件进行好坏判别前，最好能先备份；而对这类器件进行数据显示或读入、比较时则不会改变其数据。 3．EEPROM、FLASHROM、串行EEPROM器件、892051（输入2051）、891051（输入1051）单片机不能进行型号识别；892051、891051进行好坏测试时只能用“写入”键进行。 4．当按下“好坏判别”键时，若显示“1—2”或“OU--数字”或“VCC—数字”时，放好 被测器件后，须再次按下“好坏判别”键。 5．在进行各项测试之前，首先要确认测试电压与被测器件是否匹配，否则有可能损坏被测 器件。选择的原则是9.0V及15V测试电压仅CMOS40、CMOS45、数码管、光耦系列 可选，其它系列只能选3.3V及5.0V测试电压。仪器开机时黙认测试电压为5.0V。 6．用户收到仪器后，应尽快将软盘中的文件复制到微机中。 7．在以下内容中，ICT33C即代表ICT33C集成电路测试仪。 一、操作指南 1．开箱验机 请你小心取出ICT33C主机，将包装箱内的物品与装箱清单核对，若有短缺请及时与制造商联系。 ICT33C装箱清单 ICT33C主机----------一台 产品说明书------------一本 特殊器件测试板------一块 产品保修单------------一份 连接插针---------------两根 通讯光盘一张 通讯电缆一根 h.. 电源线一根 将电源线接于仪器后部插座内，打开仪器的电源开关，此时仪器应有以下反应： 液晶显示屏显示“CHECP—” 并伴有一声高音提示。 测试电源指示灯、FAIL指示灯亮。仪器进入自检状态： 自检正常，有两声低音提示，显示屏显示“PLEASE”，可进行正常测试操作。 自检失败，有两声低音提示，显示“1—”数值。 自检失效时，不能进行各项操作，此时请确认以下内容： 锁紧插座上无集成电路。 锁紧插座任意两脚之间无短路线。 电源电压在规定范围内。 如果以上各点均正常，即表明仪器损坏，请及时与厂商联系。 2、产品操作部件介绍 产品操作部件名称请见图一 图二 图二 操作键功能 1．“0—9”键为数字键，用于输入被测器件型号、引脚数目。 2．“好坏判别/查空”键为多功能键。若输入的型号为EPROM、单片机（8031除外）器件，则它使仪器对被测器件进行查空操作；在其它型号时，它使仪器对被测器件进行好坏判别。若第一次按下了数字键，则至少要在输入三位型号数字后，输入该键才能被仪器接受；若在没有输入型号数字的时候输入该键，则仪器将对前一次输入的器件型号进行好坏测试。此功能用于测试多只相同的器件。 3．型号判别”键为功能键，用于判别被测器件的型号，在未输入任何数字的前提下才是有效。 4．“代换查询”键为功能键，用于查询是否有相同逻辑功能相同引脚排列的器件，至少 在输入三位型号数字后，输入该键才能被仪器接受。 5．“老化/比较”键为多功能键，用于对被测器件进行连续老化测试，至少在输入三位型号数字后才能被仪器接受。当输入的型号是EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机器件（8031除外）时，它将被测器件内部的数据与机内RAM中的数据进行比较。 6．“读入”键为功能键，当输入的型号是EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机器件时才有效，它将被测器件内部的数据读入到机内RAM中并保存。 7．“写入”键为功能键，与“读入”键相似，它将机内RAM中的数据写入到被测器件 中并自动校验。 8．“编辑/退出”键为多功能键，它可对机内RAM中的数据进行编辑（填充、复制、查找、修改）；当对单片机及具有数据软件保护功能的FLASH ROM器件进行写入时，该键也是加密功能键；当在进行老化测试时，按该键可退出老化测试。 9．“F1/上”键为多功能键，当开机后或测试完成后，该键可选择测试电