2015X射线光电子能谱学苑培训班总结报告.PDF

2015X射线光电子能谱学苑培训 班总结报告 何运慧 2016-1-7 XPS分析中常发生的谱线重叠 Mgka ： Alka(含单色化) ： NKVV 与Ce3d FKLL 与La3d OKVV 与Co2p、Ba3d NaKLL 与Sn3d FKLL 与Mn2p MgKLL 与Ca2p、Rh3d NaKLL 与C1s 、K2p、Ca2p FeLMM 与Co2p TiLMM 与La3d、Ni2p CoLMM 与Co2p、Fe2p VLMM 与Co2p、Ba3d NiLMM 与Mn2p MnLMM 与Mn2p 、Fe2p ZnLMM 与Sn3d CoLMM 与Sn3d CeM45N45N45 与La3d5/2 NiLMM 与Sn3d OKVV 与Nd3d CuLMM 与Pd3d 、Cd3d 表面含钴样品XPS 分析的难点 Co2p 780 Okvv MgKa 780.6 Co2p 780 AlKa 776 CoLMM MgKa 解决方法： 在目前条件下，取Co3s或Co3p ； 选用其它X射线源，如：Ti 、Zr 、Ag等阳 极材料* Co2p MONO AlKa MONO AgLa XPS复杂图谱介绍和图谱分析 中的几种拟合方法介绍 Mo、S混合材料，拟合分析 Mo3d Scan 30 Scans, 4 m 31.5 s, 400µm, CAE 50.0, 0.10 eV 1.20E + 04 1.10E + 04 1.00E + 04 ) 2 Mo3d5 MoO3 9.00E + 03 × Mo3d3 MoS2 Mo3d5 MoS2 s l a u 8.00E + 03 d i s e R Mo3d3 MoO3 ( 7.00E + 03 s / s t n 6.00E + 03 u o S2s C 5.00E + 03