主动表观模型在光照变化影响下的人脸特征点定位 facial feature point detection under variable illumination based on active appearance model.pdfVIP

第14卷第1期 电路与系统学报． V01．14No．1 JoURNALOFCIRCUITSANDSYSTEMS 2009 2009年2月 Febn坩ry， 文章编号：1007．0249(2009)Ol·0072一05 主动表观模型在光照变化影响下的人脸特征点定位· 张浩1，一， 庄连生3， 王涌2， 庄镇泉2， 李斌1，2 (1．中国科学技术大学多媒体计算与通信教育部一微软重点实验室，安徽合肥23∞27； 2．中国科学技术大学电子科学与技术系，安徽合肥230027；3．中国科学技术大学信息学院信息安全专业，安徽合肥230027) 摘要t在光照条件恶劣的情况下，基于主动表观模型(AAM)的人脸特征点搜索与定位算法的精度和鲁棒性会显 著下降。本文提出采用全变分模型对图像进行光照预处理，通过对基于反射系数图的特征纹理建模来帮助特征点定位。 通过实验对比，分析了本文算法在定位精度和鲁棒性上的提高。 关键词。特征点定位；主动表观模型；反射系数图 中圈分类号tTP391．4l 文献标识码tA 1 引言 准确的特征点定位是实现人脸特征提取、进而实现准确的人脸识别、跟踪、姿态估计、表情处理 等处理技术的必要前提。对于全自动人脸识别系统而言，人脸关键特征点的定位精度直接影响后面人 脸特征提取和分类判别的准确率。目前流行的特征点定位算法有：主动表观模型(Active Model，AAM)【31、基于AdaB00st的特征点定位【14】、主动形状模型(ActiveShape 贝叶斯形状模型【7J等。 AAM是一种优秀的目标定位算法，它采用统计分析的方法建立先验模型，该模型不但包含物体的 形状信息，而且还包含有目标物体的内部纹理信息。AAM的定位搜索不仅依赖于目标物体的形状，更 加依赖于目标物体的纹理信息，而纹理灰度值往往受到光照的影响。本质上，AAM是一种基于像素灰 度级运算的非线性动态可生成的参数化模型【4】，同时，它也满足目标形状和表观上各自的线性参数模 型关系。在普通光照条件下，AAM算法能快速准确地给出定位结果，但是在变化的光照条件下或者极 端光照条件下，定位误差较大，甚至导致程序崩溃。为了消除光照对定位算法的影响，提高算法的定 位精度和鲁棒性，可以采用一些与光照条件无关的纹理特征替代灰度信息来进行建模。本文引入基于 全变分模型【”】的光照预处理算法，利用得到的反射系数图指导特征纹理建模和搜索，采用归一化纹理 间的欧氏距离作为纹理相似度优化目标，实验结果表明，采用本文算法，纹理特征点的定位精度得到 了显著提高。 本文后续内容安排如下：第2节介绍光照不变纹理的提取方法；第3节介绍光照条件变化时主动 表观模型的特征点定位；第4节将讨论本文采用的评价定位算法优劣的三项指标：平均最近点点距 后特征点定位的实验结果，并用原先不做光照不变纹理提取的定位算法结果作为比较；第6节对本文 做总结。 2 光照不变纹理的提取 射系数。根据Retinex理论，光照分量在图像区域的变化缓慢，对应于低频成分；而反射系数在人脸 区域内部变化比较激烈，对应于高频成分。提取光照分量的方法通常是构造一个低通滤波器，对图像 进行滤波，分离出光照分量。本文采用基于Retinex理论的全变分模型算法，该光照估计算法不仅能 ●订日期：2007一06-04 +收藕日期。2006．12—2l 基金项目。“多媒体计算与通信教育部一微软重点实验室”科研资助基金；安徽省人才开发资助资金 万方数据 第l期 张浩等：主动表观模型在光照变化影响下的人脸特征点定位 有效避免因低通滤波引起的“光晕”现象，而且模型简单，需要优化的参数较少。 2】： 根据幅照度模型，灰度图像可以分解为光照分量和物体表面对光照的反射系数分量的乘积【l Jky)=罔■y)×三(工，力 (1