基于ARM技术的高分辨率显示屏光电自动测试平台设计.pdfVIP

ELECTRONICS WORLD 探 索与观察 ・ 基于ARM技术的高分辨率显示屏光电自动测试平台设计 厦门南洋职业学院 聂素丽 【摘要】 本文介绍基于ARM技术实现高分辨率显示屏的光电自动测试，阐述了该系统的总体设计方案及实现流程。 【关键词】 MIPI；液晶显示；高分辨率 高分辨率显示光学自动测量平台从技术的发展看，系统测量平 2.2 SDRAM接口电路设计 台及高分辨率显示技术是关键技术。光电测量平台已经在各个显示 采用3块SDRAM用于存放RGB格式图片，ARM与SDRAM互相 企业中引入；在光电显示行业方面，高分辨率是一个市场的趋势， 交换信息实现图片的存储，电路设计如图2所示。 因此如何正确 自动的测量高分辨显示就成为了众多光电厂商积极竞 2.3 RGB信号转换高分辨率MIPI信号电路设计 争的领域。 采用SSD2828设计，经SDRAM输出的2KX1K分辨率的RGB信 号在FPGA 的控制下，输入两片SSD2828转换成8KX4K高分辨率的 1 系统整体方案设计 MIPI信号，SSD外围电路如图3所示。 2.4 自动测量设计 本设计以32位ARM 处理器为核心，FPGA 为显示驱动核心， 采用光电传感器实时监控液晶显示屏的显示情况，在ARM信 FPGA 的显示驱动画面要通过24BIT RGB转换为MIPI协议来驱动高 号的控制下实现与ARM 处理器的信息交换，实时跟踪液晶显示屏 分辨率显示屏。ARM产生控制信号，控制FPGA进行不同的画面 的自动测量，显示异常将会报警显示。 切换，同时ARM可以通过光学测量设备采集到相关的光学数据。 ARM通知FPGA切换到要测量的画面，而后通知光学设备进行光学 采集；采集后的数据进行运算换成的dB值后与理论数据进行比较， 超过一定的误差范围后进行报警显示。整体架构如图1所示： 图1 整体架构 2 实施方案 2.1 ARM接口电路 采用STM32F207ZGT6为核心处理器，该处理器为ARM Cortex 图3 SSD2828电路设计 ™-M4 是32位MCU ，带有FPU 单元，有210 DMIPS ，多达1MB FLASH/192+4KB RAM ，USB OTG HS/FS ，Ethernet,17个定时器， 3 结束语 3个ADC ，15个通讯接口，主频高达168MHz，用以满足需要有效且 易于使用的控制和信号处理功能混合的数字信号控制市场。 本文完成了对高分辨率显示屏进行亮度、暗度、GAMMA 、 Flicker 、白点、RGB画面等进行自动测量；测量后将得到的数据与 理论数据进行对比判别，而后报警显示，实现了高分辨率显示驱动 平台简易化开发及完全高分辨率显示光学自动测量。 参考文献 [1]贺鹏等.液晶显示原理[M].北京:清华大学出版社,2014． [2]李文峰.光电显示技术[M].北