光纤光栅测温在电力变压器热点温度监测中的应用 - 太辰光通信.pdf

光纤光栅测温在电力变压器热点温度监测中的应用 1 概述 大型变压器在运行时, 绕组温度分布是不均匀的。通过传统的热模拟法测量 的技术，运行绕组的温升过程与模拟不尽相同, 误差较大, 法国电网已停用该测 温装置[ 3 ]。在顶层油温处于正常水平的情况下，绕组的热点温度可能已发生局 部过热。绕组过热一方面会造成该处油的分解, 另一方面还会造成该处局部绝缘 累积性的老化(多次重复过热) , 最终将导致绝缘击穿而损坏变压器。变压器绝缘 运行寿命一般认为应遵循六度法则:年平均温度为98 ℃时具有正常寿命,当超过 或达不到98 ℃时,每上升或降低6 ℃,则变压器寿命降低一半或延长一倍。因此绕 组热点温度是变压器负载的最主要限定因素, 应尽力准确测出[ 1 ]。 2 热点温度直接测量新技术的应用 在变压器热点温度直接测量技术上，主要是围绕光纤传感技术来进行的。光 纤为SiO2材料，具有非常优异的绝缘特性，敏感组件测量和信号的传输均由光来 完成，没有电信号的引入，因此理论上就为光纤传感技术在变压器热点温度监测 上成为可能。 目前使用光纤传感技术测量变压器热点温度主要有三种测量技术：荧光式测 量，半导体式测量和光纤光栅测量。 2.1 荧光式测温 荧光式测温方法是在光纤末端加入荧光物质，经过一定波长的光激励后，荧 光物质受激辐射出荧光能量。由于受激辐射能量按指数方式衰减，衰减时间常数 根据温度的不同而不同，通过测量衰减时间，从而得出测量点的温度。 由于衰减时间常数的计算是通过荧光物质受激辐射后的光强测量而换算得 到的，而光强受光纤弯曲所产生的光损耗、光纤接头处的插入损耗以及外接光缆 的光损耗等因素影响，从而导致衰减时间常数计算误差。 2.2 半导体测温 半导体测温原理是在光纤末端加入砷化钾晶体，当光源发出多重波长的光照 射到砷化钾晶体时，该晶体处于不同的温度会吸收部分波长的光，同时将剩余不 能吸收的波长的光反射回去。通过检测反射光的频谱，从而换算出测量点的温度。 半导体测温由于测量的是光的频谱，不是光强，因此测量不受光功率影响， 但是在实际操作过程中，但是，光路的变化(如光缆的重新布置, 传感器的重新焊 接)还会严重影响测温的准确性，还须重新定标，确保温度测量的准确性。【4 】 同荧光式测温技术一样，温度敏感组件都是处于光纤的末端，单根光纤只能 接一个传感器。 2.3 光纤光栅测温 光纤光栅是在光纤上制作的、只反射特定波长的光传感组件。该器件反射的 波长与温度具有优异的线性关系，光纤光栅反射波长和温度线性拟合的决定系数 可达99.99%，通过测量光纤光栅反射回的光的波长，即可换算出测量点的温度。 在单根光纤上的不同位置可以刻写不同波长的光纤光栅传感器，每个传感以光纤 光栅刻写时的光反射波长为其编码，通过波分复用技术，从而在单根光纤上实现 最多可达20个光纤光栅传感器的串联。 2.4 三种光纤测温技术的比较 项目 光纤荧光测温 光纤半导体测温 光纤光栅测温 测 测点数量 2/4/6/8 个点 2/4/6/8 个点 几百个点 温 测温范围 -30-200 ℃ -40-225 ℃ -40-300 ℃ 主 机 测量精度 +/-2 ℃ +/-1 ℃ +/-1 ℃ 测量原理 受光强度的影响 不受光强度影响 不受光强影响 温 耐压水平 50 kV/mm 50 kV/mm 50kV/mm 度 测量距离 20m 20 m 可达 20km 探 光纤类型 500um 复合型光纤 200um 复合多模光纤 160um Polyimide 单模光纤 头 寿命 温度传感器 20 年