第2章腐蚀膜形态和组成分析.docVIP

第二章 矿化度对CO2腐蚀膜特征的影响 为了比较全面的了解CO2腐蚀产物膜的性质，在测定其力学性能之前有必要观察其形貌弄清其成份。本实验用型号为剑桥S-360的扫描电镜（SEM）观察腐蚀膜形貌，借助X射线（XRD）测定其成份。先介绍下SEM及XRD的原理。 2.1.1扫描电镜原理 本试验借助SEM对腐蚀产物膜进行形貌分析。SEM以类似电视摄影显像的方式，利用细聚焦电子束在样品表面扫描是激发出来的各种信号来调制成像的。在入射电子束被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电子叫做二次电子。这是一种真空中的自由电子。由于原子核和外层价电子间的结合能很小，因此外层的电子比较容易和原子脱离，使原子电离。一个能量很高的入射电子射入样品时，可以产生许多自由电子，这些自由电子中90%是来自样品原子外层的价电子。二次电子的能量较低，一般不超过8×10－19J(50eV)。大多数二次电子只带有几个电子伏的能量。二次电子一般都是在表层5~10nm深度范围内发射出来的，他对样品的表面形貌非常敏感，因此，能非常有效地显示样品的表面形貌[16]。 2.1.2 X射线原理 本试验借助XRD对腐蚀产物膜进行物相分析。我们知道，每种结晶物质都有自己特定的晶体结构数，如点阵类型、晶胞大小、原子数目和原子在晶胞中的位置等。X射线在某种晶体上的衍射必然反映出带有晶体特征的特定的衍射花样（衍射位置θ、衍射强度I）