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RA-114D 圆度仪 P3-1 第三章 设定RA-114D设备 此章讲述测量前RA-114D的设定操作步骤。 接通电源，启动系统。 注意：●接通电源后，系统执行初始化和通电检查工作，约需15秒钟，在此时间内屏幕无显示。 ●辅助数字尺，电源的通断与系统相互独立，注意在测量前后检查辅助数字尺电源是否接通。 3．1校准探头 RA-114D采用杠杆式探头探测探头行程，如果探头长度不同，尽管其位移量相同，但探头探测的位移不同，每次更换探头和探测器后，必须进行校准（灵敏度调整）。 RA-114D具有两种校准方法：静态校准和动态校准。 注：如在优先设置/自动执行下设置（1:startup calibrationlo）（(preferences set/parameter setup)时，设定测量位置输入（Meas Posi imput），设定为[0]时，则需通过转动微调盘输入高度值，按[ENT]键确认。 注：●应输入工件测点至平台顶面之间的高度值。 用卡钳（卡尺）测量截面轮廓高度。 将探头与第二个测量位置（测量轮廓）接触。 重复④~⑥步对2个截面轮廓进行测量。 当两个截面轮廓完成后，自动计算水平量并显示。 4）多截面对中/水平测量。 测量以工件的两个给定截面轮廓以同时确定其水平量（LX、LY）及对中量（CX、CY）。 按[CENTERING]键调出对中屏。 屏幕将显示上一次对中条件，选择并确定设定条件。 对应方法：水平+对中（两个截面） 测量工件不同，对中条件不同。 改变设定条件，按[CHANGE]键。 注：开始测量前降低探测器直至探头尖部与平台顶面同高，对RA-114D型设备检查辅助数字尺显示应为0.003mm,如不是,按2.2.6节复位。 将探针与第一个测量位置（测量轮廓）接触。 旋转平台的同时，用探针笔进给手柄调整。 、⑥、⑦、⑧同上 当完成两个截面轮廓测量面后，系统自动计算水平量及对中量并显示。 5）对中/水平多点测量 测量工件一截面轮廓上的多个点以确定对中量及水平量，此方法对采用开槽工件进行对应和校准有效。 按[CENTERING]键，调出对中屏。 屏幕将显上一次对中条件，选择并确定设定条件。 对应方法：多点 输入点数：10点 测量工件不同，对中条件不同 改变设定条件，按[CHANGE]键。 使探头与工件接触。 转动平台的同时用进给旋扭调节探测器位置，使探头摆动显示在表的灵敏范围内，转动微调盘进行微调后回零位。 按[START]键，开始测量。 转动平台使探头接触第一个测量位置后，按[ENT]键，见P3-18图。“△”表示已完成的测量点（此处为5点）。 重复第⑥步已完成所需各点的测量。 输入第一截面轮廓高度（Z值）或孤度（R值）。 如进行多截面轮廓对中/水平测量，则将探头移至第二截面轮廓上，重复步骤④~⑧。 当所有测量点完成输入后，系统自动计算并显示，对中量和水平量。 3.2.3调节对中/水平量 此设备具有两种方法，即探测法和DAT法（数字调整表），（仅RA-114D型），简单快速完成工件的对中和水平。 ●探测法 在转动对中手柄（CX、CY）和水平手柄（LX、LY），监督的同时监督液晶屏上显示的探测器调整量及偏移量的调整方法。 DAT方法（仅RA-114D） 监视对中手柄CX、CY及水平手柄LX、LY上数字显示的同时，调节各手柄，使其显示的数据与主液晶屏上显示的数据相同的调整方法。 根据实际情况选择的一种方法。 探测法 对中步骤举例解释如下，顺序调节CX手柄 ，LX手柄 ，CY手柄及LY手柄。 对中测量完成的琪 调整量显示在液晶屏上。 转动平台使平台角度（θ值）显示为0°此时液晶屏的手柄选择显示将变为CX。 图P3-20 转动CX手柄使其在液晶屏上摆动显示为0（见图P3-20） 转动平台使液晶屏上显示平台角度值θ值为90°，液晶屏上手柄选择显示从CX变为CY。 转动CY手柄，步骤同③ 如对中后完成了以上对中调整，液晶屏将返回3.2.2节启始显示屏。 DAT方法 对中/水平测量完成后，其CX、CY及/或LX、LY手柄的调整量，均显示在各液晶屏上。 转动探笔进给手柄使探笔离开工件。 按CX手柄上XERO/ABS按钮使其液晶显示归0。 转动CX手柄使其液晶屏显示的数据与主液晶屏上显示的数据相等。 按以上方法调节CY、LX及LY手柄，完成调整。 按[ENT]键完成对中及水平调整，液晶屏回到3.2.2的起始屏。 注：根据工件测量精度要求，可重复步骤3.2.2和3.2.3,并提高表的灵敏度（参见“5.2”修改表灵敏度，即归“0”）。 3.3调整探测器位置 如：探头尖部偏离工件的轴线，则将出现测量误差，为此应按以下步骤调整探头位置。 探头位置的调整分两个步骤：垂直调整和水平调整。 探测器垂直方向的位置调整。 如