铁电存储器在脱扣器寿命测试台系统中的应用 application of ferroelectric ram in the system for testing releaser lifetime.pdfVIP

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2017-08-18 发布于上海
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铁电存储器在脱扣器寿命测试台系统中的应用 application of ferroelectric ram in the system for testing releaser lifetime.pdf

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铁电存储器在脱扣器寿命测试台系统中的应用 application of ferroelectric ram in the system for testing releaser lifetime

低压电器(2009№3) ·智能电器及计算机应用· 通用低压电器篇铁电存储器在脱扣器寿命测试台系统中的应用书皮大能1，郑永刚2 (1．湖北师范学院，湖北黄石435002； 2．三信国际电器上海有限公司，上海201209) 摘要：介绍了一种具有两线接口的铁电存储器FM24CL04在脱扣器寿命测试台皮大能(1966--)，系统中应用。详细描述该器件的基本结构、工作原理和使用方法，设计了以c8051F020 男，讲师，硕士，研单片机为控制核心的脱扣器寿命测试台系统，并给出了FM24cID4读写操作程序。运究方向为电力电子行结果表明，该测试台抗干扰能力强、使用简便、成本低，且节省了访问时间。与电力传动、嵌入关键词：铁电存储器；两线接口；驱动程序式系统及测控技 561：TP 343文献标识码：B 中图分类号：TM 文章编号2()09)03一术。 n026．n3 of RAMinthe Ferroelectric Application System for ReleaserLifetime Testing P／Danen91。ZHENGYonggan92 Normal (1．HubeiUniversity，Huangshi435002，China； 2．SASSINInternationalElectric ShanghaiCo．，Ltd．，Shanghai261209，China) offerroelectricFM24CL04with2．1ineinterfaceinthetest for Abstract：The relea． application memory system serendurancewa$introduced．Thebasic and ofuseofthis were structure，workingprincipleway memoryexpoun— ded．Atest forreleaserendurancewith C8051F020a8acoreWas readwrite system microchip designed．The pro- ofFM24CL04were