微波铁氧体器件失效情况的统计与分析 failure statistics and analysis of microwave ferrite devices.pdfVIP

微波铁氧体器件失效情况的统计与分析 failure statistics and analysis of microwave ferrite devices.pdf

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微波铁氧体器件失效情况的统计与分析 failure statistics and analysis of microwave ferrite devices

工艺 技术 应用 微波铁氧体器件失效情况的统计与分析 621000 摘 要 2000~2003 关键词 中图分类号 TN62 文献标识码 B 文章编号 1001-3830(2006)05-0058-03 包括磁体脱落 基片及微带线有裂纹 重缺陷包括 1 微带型器件及带线型器件失效模式 电性能超差 轻缺陷包括基片掉块等[1] 带线型器 多晶微波铁氧体器件分为微带型器件及带线 件致命缺陷包括磁体脱落 内部元件松动导致内部 型器件 两种器件所用的材料 生产工艺及结构都 有响声 重缺陷包括电性能超差 器件表面氧化 不一样 交货检验中出现批次性不合格的比例也不 外形尺寸超差等[1] 微带型器件及带线型器件失效 同 在批次性不合格中 微带型器件批次性不合格 模式见表 1[1] 数占总批次性不合格数的 26% 带线型器件批次性 1 表 微带及带线型器件失效模式 不合格数占总批次性不合格数的 74% 可见 带线 器件类型 致命缺陷 重缺陷 轻缺陷 型器件批次性不合格数是微带型器件批次性不合 磁体脱落 基片及微 微带型器件 电性能超差 基片掉块 格数的近 倍 降低带线型器件的失效 可大大降 带线有裂纹 3 低批次性失效 磁体脱落 内部元件 电性能超差 器件表 器件表面 带线型器件 面腐蚀 氧化 多晶微波铁氧体器件检验一般按 A 组 外观 松动导致内部有响声 外形尺寸超差 有水印 及机械检验 B 组 标准大气条件下及极限工作 温度下电气性能检验 C 组 环境试验及周期检 2 微带型器件 验 的顺序进行 环境试验及周期检验分为机械试 验 包括高频振动 随机振动 冲击 加速度等 2.1 微带型器件失效模式 不合格率统计与分析 表 2 是微带型器件分别在 A 组 B 组 C 组检 和气候试验 包括温度冲击 稳态湿热 耐湿等 在各组试验中 导致器件失效的缺陷分为致命缺 验中出现批次性不合格数及相应的失效模式占微 陷 重缺陷及轻缺陷三种[1] 微带型器件致命缺陷 带型器件总批次性不合格数的统计结果 2 表 微带型器件失效模式及批次性不合格数的统计 A 组 B 组 C 组 环境试验及周期检验 试验项目 外观及机械检验 电气性能 机械试验 气候试验 失效模式 致命缺陷 重缺陷

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