微机保护装置抗电快速瞬变脉冲群的研究 research on eftb countermeasure of microprocessor protection device.pdfVIP

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2017-08-18 发布于上海
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微机保护装置抗电快速瞬变脉冲群的研究 research on eftb countermeasure of microprocessor protection device.pdf

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微机保护装置抗电快速瞬变脉冲群的研究 research on eftb countermeasure of microprocessor protection device

第46卷第10期高压西餐 V01．46No．10 ·10· 2010年 10月 HighVoltageApparatus Oct．2010 微机保护装置抗电快速瞬变脉冲群的研究王玉峰1一，邹积岩2，廖敏夫2 (1．辽宁科技大学，辽宁鞍山114051；2．大连理工大学，辽宁大连116024) 摘要：为了抑制电快速瞬变脉冲群(简称EFT／B)对微机保护装置的干扰，首先分析E兀yB干扰微机保护装置使其发生显示不正常、误动、拒动、甚至系统死机的原因。然后，通过对微机保护装置的外部端口施加EFUB的试验方法来测试各种保护措施抑制 E兀’，B的效果。最后。对一套真空度在线监测系统进行EFr／B抗扰度试验测试，试验结果表明，改进的分布式电源、铁氧体磁珠、去耦电容等保护措施对EFrIyB具有较好的抑制作用。关键词：电快速瞬变脉冲群；微机保护装置；抗扰度试验；铁氧体磁珠中图分类号：TM774 文献标志码：A 文章编号：1001．1609(2010)10-0010-06 ResearchonEFT／BCountermeasureof ProtectionDevice Microprocessor WANG Min—fu2 Yu-fen912，ZOUJi—yan2，LIAO and of 1 (1．ScienceTechnologyUniversity 14051，China； Liaoning，Anshan 2．Dalian of 1 UniversityTechnology，Dalian16024，China) Abstract：Into devicesfrom causeaboutabnormalof order EFr／B，the protectmicroprocessorprotection actandevenacrashof deviceswhenit sufferfromEFY／Bwas of rejecting microprocessorprotection analyzed eachEfT／Bcountermeasurewagtestedwhenexternalof deviceswas from portmicroprocessorprotection sufferingEFT／B．Finally，a setofvacuum wasunderEYr／B test．The indicatedthatEFr／Bcountermeasuressuch on-line monitoringsystem immunity experiment as distribution beadand wereeffective． improved power decouplingcapacitor supply．ferrite bead test；ferrite Keywords：EFl7B；microprocessorprotectiondevice；immunity