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功率VDMOS器件的研究与发展杨法明
功率VDMOS器件的研究与发展
, , , , ,
杨法明 杨发顺 张锗源 李绪诚 张荣芬 邓朝勇
( , )
贵州大学 理学院 电子科学系 贵州省微纳电子与软件技术重点实验室 贵阳 550025
: ( ) 。
摘要 简要介绍了垂直双扩散功率场效应晶体管 VDMOS 的研究现状和发展历史 针对功率
, (
VDMOS器件击穿电压和导通电阻之间存在的矛盾 重点介绍了几种新型器件结构 包括沟槽栅
、 、 ) ,
VDMOS 超结 VDMOS 半超结 VDMOS 的工作原理和结构特点 以及其在制造工艺中存在
。 。 (
的问题 对不同器件结构的优缺点进行了比较分析 对一些新型衍生结构 包括侧面多晶硅栅
、 ) ,
VDMOS 边氧沟道VDMOS和浮岛 VDMOS 的特点进行了分析 叙述了新型 SiC材料在 VD
-
, 。
MOS 器件中应用的最新进展 并指出了存在的问题和未来发展趋势
: ; ( ); ; ;
关键词 功率器件 垂直双扩散功率场效应晶体管 VDMOS 击穿电压 导通电阻 SiC材料
中图分类号: 文献标识码: 文章编号: ( )
TN386.1 A 1671-4776 2011 10-0623-07
ResearchandDevelo mentofPowerVDMOSDevices
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Yan Famin Yan Fashun Zhan Zhe uan LiXuchen Zhan Ron fen Den Chao on
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Ke Laborator o Micro NanoElectronicsandSo twareTechnolo o GuizhouProvince
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