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cmp抛光机抛光盘温度的精确控制 precise control of cmp polishing machines table temperature
:£丛里夔查皇堡鱼: 弛盟础翟通皿
CMP抛光机抛光盘温度的精确控制
种宝春,柳滨,棠文趋
(中国电子科技集团公司第四十五研究所,北京东燕郊1016叭)
摘要:CMP的加工过程,是对晶圆表面进行平坦化的过程,在对晶圆表面材料进行去除当中产
生了热量.造成温度的上升。为了获得均匀的抛光去除率,达到全局的平坦化,必须对温度采取精
确控制.分析研究了CMP加工过程中热量的产生,并介绍了一种对温度进行控制的方法。
关键词:抛光液;抛光盘;温度控制
中图分类号:TN307 文献标识码:A 文章编号:1004—4507(2007)10一0014一03
ControlofCMP Machine’sTable
Precise Polishing
CHONGBao.chun,LI【JBin,SONGWen-chao
(The45nlRcse眦hhIstitIlte0fcETc,Ea砒Yanji地Beijitlg10160l,china)
Abst姻ct:CMPisaprocesstopIanarizethe su出ce
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Keywords:Slurry;Table#Temperature
1 引言 温度又是影响反应速度的关键因素。在机械作用后
将反应物及时地去除,达到反应速度和机械去除速
cMP的加工过程,是对晶圆表面进行平坦化 度的合理,不能出现去除不彻底或是过量的机械作
用造成对晶圆划伤现象的发生。所以对抛光过程中
的过程,要对AL、cu、w、sTI氧化层及Low一☆等材
料进行抛光加工。由于抛光机理是通过化学作用 的温度控制是非常重要的。
后,对抛除材料形成络合物,后对络合物进行机械
作用去除。所以化学作用是抛光过程中的重要作 2 抛光液与去除材料的反应机理
用。目前在抛光过程中采用的抛光液是分别加入了
纳米级磨料的酸性或碱性的化学液体。在化学反应 目前在CMP加工过程中所采用的抛光液为掺
过程中具有热量的释放,从而造成温度的上升,而 杂了纳米级磨料的酸性或是碱性化学液。酸性抛光
收稿日期:2007-09.28
作者简介:种宝春(1970一),男,天津市人,工程师,从事半导体专用设备研究。
(9(总第153期)回曩囫固
万方数据
圈脚黥黜善鉴 :£M!堕查皇堡鱼:
液主要包含有氧化剂、助氧剂、均蚀剂、抗蚀剂、pH 3 CMP加工过程中热量的产生及对抛光
值调节剂和磨料。其中氧化剂有HNO,、H:sO。、Ag
去除率的影响
NO;、H:O:和如Mn04,常用的氧化剂是氧化势很高
的硝酸。碱性抛光液的组成包含有络合剂、氧化剂、
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