mcm基板电路中的短路和断路的自动光学检测算法 algorithm of automatic optical inspection for open and short circuit in mcm.pdfVIP

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  • 2017-08-20 发布于上海
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mcm基板电路中的短路和断路的自动光学检测算法 algorithm of automatic optical inspection for open and short circuit in mcm.pdf

mcm基板电路中的短路和断路的自动光学检测算法 algorithm of automatic optical inspection for open and short circuit in mcm

MM基板电路中的短路和断路 C 的自动光学检测算法 姚立新,张云 01601) (中国电子科技集团公司第四十五研究所,北京东燕郊1 摘要:介绍了MCM基板自动光学检测算法。该算法包括二值化处理,数学形态学中的开运算和 闭运算、骨架化算法,以及特征提取和特征比对。该算法能够I夹速准确地抽取McM基板电路中的主 要特征,并且在有效放大短路和断路特征之后检测出缺陷。 ’ 关键词:二值化处理;开运算;闭运算;骨架化算法 中图分类号:TN206文献标识码:A 文章编号:1004—4507(2006)02-0035—04 ofAutomatic for Algorithm OpticalInspection an

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