mcm基板电路中的短路和断路的自动光学检测算法 algorithm of automatic optical inspection for open and short circuit in mcm.pdfVIP

MM基板电路中的短路和断路 C 的自动光学检测算法 姚立新，张云 01601) (中国电子科技集团公司第四十五研究所，北京东燕郊1 摘要：介绍了MCM基板自动光学检测算法。该算法包括二值化处理，数学形态学中的开运算和 闭运算、骨架化算法，以及特征提取和特征比对。该算法能够I夹速准确地抽取McM基板电路中的主 要特征，并且在有效放大短路和断路特征之后检测出缺陷。 ’ 关键词：二值化处理；开运算；闭运算；骨架化算法 中图分类号：TN206文献标识码：A 文章编号：1004—4507(2006)02-0035—04 ofAutomatic for Algorithm OpticalInspection an