原创力文档nmos管热载流子衰退效应评价模型及寿命预测方法研究 evaluating model of hot carrier and lifetime estimating of nmosfet.pdfVIP
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- 2017-08-20 发布于上海
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nmos管热载流子衰退效应评价模型及寿命预测方法研究 evaluating model of hot carrier and lifetime estimating of nmosfet
第31卷第5期 电子器件 v01．31No．5
Of
2008年10月 ChineseJ∞r礁1 EkctroflDevices Oct．2008
ModelofHot and ofNMOSFET。
Evaluating CarrierLifetime
Estimating
ZHAOWen-bin¨，CHEN Xiao-，wen3，ZHOUChuan-mia02，YU
Hui—ron92，ZHANG Zong-guan92
School
r1．XidianUni
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