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2017-08-21 发布于重庆
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leadcheck_视觉检测演算法

檢測 shift檢測取像結果：定位處的影像清楚 shift檢測計算方法 Frame1偏移量 Panel 電路 pattern 定位 (x0,y0) TAPE 電路 pattern 定位 , 得到位置 (x1,y1) Shift x1 (x0-x1) Shift y1 (y0-y1) Frame2偏移量 Panel 電路 pattern 定位 (x2,y2) TAPE 電路 pattern 定位 , 得到位置 (x3,y3) Shift x2 (x2-x3) Shift y2 (y2-y3) TAB角度偏移量 θ 倍率2.5x(2.5μm/pixel)同一位置影像重複測試20次所得數據 x：1.46μm(3σ) ，y：1.21μm(3σ) pixel pixel μm μm σ 0.162525 0.135113 0.487574 0.405338 3σ 0.487574 0.405338 1.462723 1.216013 max -18.573 -112.203 -55.719 -336.609 min -19.309 -112.773 -57.927 -338.319 rang 0.736 0.57 2.208 1.71 akkon及數粒子檢測流程圖 akkon及數粒子檢測影像投影法分離出所要檢測的 lead intensity 標示圖：所標示的為導電粒子所形成壓痕處 particle 標示圖：所標示的為導電粒子所在處測試數據 lead編號平均壓痕強度壓痕所佔面積﹪ 顆粒數 1 0.0077 29.22 31 2 0.0070 29.66 22 3 0.0045 23.96 24 4 0.0048 20.28 20 5 0.0068 28.94 23 6 0.0068 31.59 37 7 0.0084 36.85 27 8 0.0067 30.33 26 9 0.0057 27.52 27 L Frame 2 Frame 1 檢測區域投影所得之值