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2017-08-21 发布于上海
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基于线性规划的关键面积最小化方法 critical area minimization using the lp method.pdf

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基于线性规划的关键面积最小化方法 critical area minimization using the lp method

电子科技2008年第21卷第10期基于线性规划的关键面积最小化方法王强，王俊平，任春丽 (西安电子科技大学通信工程学院，陕西西安710071) nnl和65 摘要随着集成电路(Ic)技术的不断发展，尤其在90 11111技术节点，集成电路制造业的投资剧增而随机成品率却在下降。为了提升随机成品率，需要在布线或后布线阶段减小关键面积。文中提出一种基于线性规划降低关键面积的方法，使关键面积在一组条件约来下，通过版图中一些特征量的变化，建立起一个线性规划模型，然后求其最优解，进而得出关键面积的最小值。该方法的优点是把一个版图优化问题转化为数学问题，使问题更精确化。从而为成品率的优化提供了一条新途径。关键词关键面积；成品率优化；线性规划中图分类号TN41文献标识码A 文章编号1007—7820(2008)10—001—04 CriticalAreaMinimizationtheLPMethod Using Wang Chunli Qiang，WangJunping，Ren ofCommunications (School 710071，China) Engneering，XidinUniversity，Xi’an AbstractFormodemIC at90amand65nm investmentofICmanufac— processes technologynodes，the is whereastherandomlossis isessentialtominimizethe turingincreasingsharply yield decreasing．Hence，it criticalarea or amethodthelinear method duringroutingpost—routing．Thispaperpresents using programming tominimizethecriticalareawhichis tothedifferencebetweenthe criticalareasandusesthis equivalent original modeltoformulatea intolinear main of arethatit setofconditions thismethod prograrmning．Theadvantages transform mathematical makethe can a intoa and more layoutoptimizationproblem problem problemspecific， thus anew to offeringapproachyieldoptimization．