基于检测正确率成败型系统可靠性的近似置信限.pdfVIP

第8卷 第2期 2008年1月 科 学 技 术 与 工 程 Vo1．8 No．2 Jan．2008 1671—1819(2008)2-0476—05 Science Technology and Engineering @ 2008 Sci．Tech．Engng． 基于检测正确率成败型系统可靠性 的近似置信限 叶秀芬 郑海鹰 (温州大学数学与信息科学学院，温州325035) 摘 要 讨论了检测正确率小于1的情况下，按检测数据由独立的成败型元件组成的串并联系统及并串联系统可靠性的近 似置信下限。利用系统诸元件的试验数据，在一、二阶矩拟合的原则下，将其折合为原系统的伪试验数和伪成功数；然后，利 用单个成败型元件可靠性的经典精确置信下限作为原系统可靠性置信下限的近似值；给出了伪试验数和伪成功数的推导公 式，最后给出了模拟计算实例，说明该方法可行。 关键词 串并联系统 并串联系统 检测正确率 可靠性 置信限 中图法分类号 0213．2； 文献标志码 A 在元件或系统的可靠性评定中，往往利用检 为R =1-Ip ，由文献[2]，系统的可靠性为 测数据来求其可靠性的近似值。文献[1]讨论了 J=1 ， mi 、 基于检测数据在检测正确率为1的情况下串并联 R：1一H(1一Ri)=1一H I 1一lip )。 系统及并串联系统可靠性的近似置信下限，并给 出了模拟计算实例，计算结果表明该方法给出的 现假设有以下试验数据：对第 个子系统的第j： 近似置信下限是偏冒进的。实际上，在试验结果 个元件试验 次，每次检测正确率为r ，(已知)，经 的检测过程中也会出现误测，即把正常的元件或 检测被判为成功的次数为5 ，真正的成功次数 系统误认为已经损坏，或者把已经损坏的元件或 未知。 系统误认为还是正常的。现讨论检测正确率为 设对第 个子系统的第 个元件每次试验被判 r(0．5r1)的情况下，基于检测数据的串并 为成功的概率为 ，由文献[3]， 满足 联系统及并串联系统的可靠性的近似置信下限。 卢 = +(1一 )(1～P )。 考虑检测正确率更具直观合理性，而且模拟计算 而p ∈[0，1]，于是 ∈[1一 ， ]。又由于对 实例说明用新方法得到的近似置信下限是偏保守 数似然函数为 的，因而效果较文献[1]偏好。 三=ln{c (1一 ) =In嚷+5 瞩+( 一 5 )ln(1一 )。 1 并串联系统可靠性近似置信下限 令卷 0，易知 的极大似然估计为 设系统由 个独立的子系统并联而成，第 个 r1一 ，5 ／No1一 子系统又由m 个独立的元件串联而成。第 个子 系统的第 个元件的可靠性为P ，(未知)(i=1，2， 岛 =Is ／N ，1一r ≤s ／N ≤r … ＼r ，s。／N rq ，k =1，2，…，m )。于是第 个子系统的可靠性 于是