电子线透过电子像.PPT

まとめ X線回折 X線回折装置、wスキャン、w/2qスキャン、多結晶と単結晶、逆格子マッピング 電子線回折 電子の波長、Laueゾーン、カメラ長 結晶構造、方位の解析 電子顕微鏡 回折像のフーリエ変換、暗視野像と明視野像、励起によって生じる現象を利用した観察 結晶工学特論　　第5回目 前回の内容 Braggの式とLaue関数 実格子と逆格子 回折（結晶による波の散乱） Ewald球 構造因子と原子形状因子 今日の内容 X線回折 格子定数の測定、逆格子マッピング 電子線回折 結晶構造、方位の解析 電子顕微鏡 X線と電子線の波長 結晶からの散乱波が回折するためには、格子間隔よりも短い波長の波が必要 X線（電磁波） 電子線（ドブロイ波） k k’ 2q G 特性X線 K核 M核 L核 励起 緩和 特性X線 K核 M核 L核 原子核 Ka Kb La 電子線 主な元素の特性X線の波長（単位は?） 元素名 Ka Kb La Co 1.78892 1.62075 Ni 1.65784 1.50010 Cu 1.54051 1.39217 13.357 Mo 0.70926 0.63225 5.40625 電子線の波長 ドブロイの関係（p=h/l）より h ：プランク定数 p ：電子の運動量 l ：電子の波長 m ：電子の質量 e ：素電荷 V ：加速電圧 c ：光速 m0 ：電子の静止質量 加速電圧が高くなり、光速に対して電子の速度が無視できないと 100kV 0.037? 200kV 0.025? 400kV 0.017? 格子間隔（数?）に比べてはるかに小さい X線回折装置の可動部と角度の定義 X線源 検出器 w 2q 試料 固定 回転 回転 入射X線 反射X線 w : 入射X線と試料表面の角度 試料の角度で制御 2q：入射X線と検出器の方向の角度 検出器の角度で制御 k k’ 逆格子空間におけるwと2q w 2q 結晶の表面に平行 k k’ Ewald球 w : 逆格子点の方向（原子面の向き） 2q：原点と逆格子の距離（格子間隔） wスキャン X線源 検出器 w 2q 試料 固定 固定 回転 入射X線 反射X線 試料のみを回転させる w ：変化 2q：固定 wスキャン　逆格子では？ w 2q w 2q wが変化すると??? wスキャン　逆格子では？ w 2q ストップ w 2q w 2q w 2q w 2q w 2q w 2q w 2q w 2q w 2q wスキャンからわかること 特定の逆格子点の回転方向の広がり 結晶の面方位の揺らぎ 　　（格子間隔は一定） w / 2qスキャン X線源 検出器 w 2q 試料 固定 回転 回転 入射X線 反射X線 試料と検出器を同時に回転させる ただし w / 2qスキャン　逆格子では？ w 2q w 2q w、2qが変化すると??? w / 2qスキャン　逆格子では？ w 2q w 2q w 2q w 2q w 2q w 2q w 2q ストップ w / 2qスキャンからわかること 逆格子点の間隔（|G|） 格子定数 広がる理由 粉末（多結晶）と薄膜の違い 粉末、多結晶 微結晶がさまざまな方向を向いている 薄膜（単結晶） 結晶の方向は揃っている 粉末や多結晶では、 w に関わらず、回折波を観測できる 2q がある 格子定数のみがわかる 逆格子マッピング 2q w w ：　格子面の向き 2q： 格子面の間隔 wと 2q は独立 ２つの独立なパラメータがあれば、平面を埋めることができる 逆格子マッピング 歪んだ結晶の逆格子 実空間 逆格子空間 歪と逆格子マッピング 原点 基板 原点 基板 原点 基板 電子線回折と電子顕微鏡 電子線回折の特徴 波長が短い 100kV 0.037? 200kV 0.025? 400kV 0.017? k 電子線回折像 サファイア（Al2O3）　[1100]入射 Laueゾーン 入射電子線 種々の方向から入射した電子線回折像（閃亜鉛鉱構造） [001] [110] [112] [113] [001] [110] [110] - [110] [110] - [001] - [110] - [112] [111] - - [113] [110] - [332] - - 000 002 111 113 222 - 220 - 220 - 222 - - 222 - 113 - - 111 - - 111 - - 113 - - 002 - 113 - - 111 - - 222 - - 000 220 - 220 - 111 - - 222 - - 042 - 131 - 311 - 402 - - 111 222 - 31