材料表征和分析(不是很完全).docxVIP

特征X射线的短波限由光管电压决定的。（考）10、特征X射线谱：阳极靶材的原子序数越大，相应于同一系的特征谱波长越短。特征X射线的波长由阳极材料的原子序数决定。（考）特征X射线的产生主要与原子内部电子的激发与跃迁有关。12、连续、特征X射线区别？能量来源不同。连续：电子动能损失产生；特征：来自电子的激发与跃迁。波长不同。连续：波长有很多种；特征：波长特征为定值。（作）16、光电效应、俄歇效应的区别？光电效应:二次特征辐射→探测材料成分、种类及含量；俄歇效应：测元素种类。Ｘ射线衍射方向X射线衍射与普通光学反射的区别：X射线衍射：波长短，具有一定穿透性，不仅发生在介质表面。反射：发生在表面。9、晶面指数确定的方法：A、量出待定晶面在三个晶轴的截距，并用点阵周期a, b, c度量它们。B、取三个截距系数的倒数C、把它约简化为最简的整数h, k, l, 并用小括号括起来，就构成该晶面的晶面指数（h k l）。10、晶向指数的确定方法：A、过坐标原点找一条平行于待定晶向的行列。B、在该行列中任选一个结点，量出它在三个坐标轴上的坐标值（用a, b, c度量）C、将它们化为简单的整数u, v, w，并用方括号括起来，便构成晶向指数[uvw]。11、体心立方属于[0 0 1]晶带，离中心透射点最近的（考）,→=0.为偶数。12、晶面间距：（考）立方晶系：13、布拉格角θ定义：设入射线与反射面之夹角为θ，称掠射角或布拉格角。（考）入射角θ：材料转动θ，接收器转动2θ。X射线具有穿透性。15、布拉格方程：2dsinθ=λ=nθ，式中：n——任意整数，称反射级数。（考）式中：d：晶面间距，θ：布拉格角，λ：入射光波长。应用：已知λ，测量θ→计算d，对晶型、物构进行分析；已知d，测量θ→求出λ，用特征X射线求波的元素种类。18、细胞参数a，已知θ/2θ求a。（考）20、布拉格条件：21、利用德拜法计算点阵的点阵参数计算R；计算θ；（θ/2θ）22、德拜相机工作原理：单色射线照射多晶体试样，使底片感光。第三章 X射线衍射强度1、：称结构因数，它表征了单胞的衍射强度，反映了单胞中原子种类、原子数目及原子位置对（HKL）晶面衍射方向上衍射强度的影响。（考）2、几种点阵的结构因数计算（考）简单点阵：；1种位置的原子：（0，0，0），不消光。体心点阵： 2种位置的原子，顶角（0，0，0，），（，，）。面心点阵：。4种原子，（0，0，0，），（，，0），（0，，），（，0，）结构因数只与原子的种类及在单胞中的位置有关，而不受单胞的形状和大小的影响。3、点阵消光规：（考）布拉菲点阵出现的反射消失的反射简单点阵全部无体心点阵H+K+L为偶数H+K+L为奇数面心点阵H、K、L全为奇数或全为偶数H、K、L奇偶混杂5、多晶体衍射的积分强度公式（考第一道简答题）式中,I0 为入射X射线的强度；λ为入射X射线的波长;R 为试样到观测点之间的距离；V 为被照射晶体的体积；Vc为单位晶胞体积； P 为多重性因子；F 为结构因子； A(θ) 为吸收因子；φ(θ) 为角因子； e-2M 为温度因子。第四章多晶体分析方法1、样品大多为粉晶（粉末），故常称“粉末法”。德拜－谢乐照相法（早期）衍射仪法（近期）。2、定性分析中最重要的参数：d.3、X射线可以测量：（X射线衍射应用技术的进展：）物相定性、定量分析错配度分析（精确测定点阵常数）应力测定（宏观应力的分析、残余应力的分析）晶粒度测定（晶粒大小测定）织构测定（取向）鉴别晶体与非晶体颗粒度测定非环境分析（高温、低温相变）结晶度分析薄膜、多层膜结构、厚度、粗糙度测定纳米材料4、X射线检测与其他电镜、化学分析相比：化学分析与X射线检测：X:测结构，化：测元素种类、含量。电镜分析与X射线检测：电镜：直观的反应材料微观性； X:没有电镜直观，衍射花纹代表结构。第五章 X射线物相分析1、物相：试样中由各种元素形成的具有固定结构的化合物。（包括单质元素和固溶体）2、任务：利用x-ray衍射方法，对材料中的物相进行定性和定量分析，给出物相的组成和含量。5、X射线物相分析/鉴定步骤：（考）测量读出θ或2θ的值；由2dsinθ=λ，计算得出d值；用d值对比，对上d值后，双击，出现物质具体的参数；根据卡片号数查物相。6、X射线鉴定需要注意的问题？定性物相分析的注意事项？（考）d值比强度I值更加重要；强线比弱线重要，要重视特征线；做X射线衍射分析得到初步的结果，更精确的需要另外的手段支持；重视低角区数据，多相物质低角区衍射线重叠机会小，数据更可靠。只能判定某相存在，不能断言某相不存在。力求全部数据都能合理解释。多相物质，去除一相后，剩余线条归一化处理。与其它分析手段结合，互相配合，互相印证。卡片不断校正，使用时选用更