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附件3：国家标准项目介绍 标准名称 石墨烯薄膜的性能测试方法 ICS分类号 07.030 目的意义 石墨烯是一种典型的二维纳米材料，由于石墨烯具有高电子传输速率以及光透过率，石墨烯薄膜材料被广泛应用于透明导电膜的制备，在许多光电器件，如太阳能电池、触摸屏、智能窗、液晶显示等领域中备受关注。由于不同应用对于透明导电膜的性能要求不同，在使用前需要对石墨烯薄膜的导电性、透光性等性能进行测试，以评价石墨烯薄膜的光电性能，并有助于选出符合应用所需的材料。 本标准使用四探针法对石墨烯薄膜的导电性和面电阻均匀性进行测试，使用原子力显微镜扫描法对石墨烯薄膜的厚度进行测试，使用紫外-可见-近红外分光光度法对石墨烯薄膜的透光性进行测试。国内尚无测试石墨烯薄膜上述性能的标准方法。因此，为满足国内该领域的使用需求，制定石墨烯薄膜性能测试标准具有重要意义。 范围和主要技术内容 本标准规定了在常温常压空气环境下使用四探针法对石墨烯薄膜样品的导电性和面电阻均匀性进行测试的方法。通过定量测试石墨烯薄膜的方块电阻值，并结合厚度信息得到电导率值，从而进行石墨烯薄膜样品的导电性的综合评价。本标准规定了九点电阻测量法测定石墨烯薄膜的面电阻均匀性的方法，通过测定特定的九个点的方块电阻值，计算方块电阻偏差的相对大小，从而得到薄膜样品均匀性的评价。本标还准规定了原子力显微镜扫描法测定石墨烯薄膜的厚度的方法，通过扫描样品边缘处的高度差，得到薄膜的厚度信息。本标准同时规定了在空气环境下使用紫外-可见-近红外分光光度法（UV–Vis-NIR）对石墨烯薄膜样品的透光性进行测试的方法。通过定量测试石墨烯薄膜在紫外-可见-近红外波长范围内的透过率曲线，进行石墨烯薄膜样品在所选取的波长范围内透光性的综合评价。同时，本标准提供一种对可见光区域内石墨烯薄膜的透光性的评价方法。 技术内容： 使用四探针测试仪对石墨烯薄膜的方块电阻和电导率进行测试，明确石墨烯薄膜的导电性。具体为样品准备、方块电阻的测试、样品厚度测试、电导率的计算，重复进行三次样品测试。使用四探针测试仪对石墨烯薄膜的面电阻均匀性进行测试，具体为选取测试区域和测试点、方块电阻的测试、均匀性的计算。使用原子力显微镜对样品的厚度进行测试，具体为样品准备、原子力显微镜扫描得到厚度信息、多次扫描取平均值。使用紫外-可见-近红外分光光度计对石墨烯薄膜在某一波长范围的透光率进行测试，明确石墨烯薄膜的透光性。具体为样品准备、波长区间及扫描速率确定，重复进行三次样品测试，由透光率曲线得到石墨烯薄膜的透光性评价。 国内外情况 国内尚无对石墨烯薄膜的导电性、面电阻均匀性、厚度、透光性等性能测试制定标准方法。 标准名称 储能用石墨烯基复合电极材料的振实密度测试方法 ICS分类号 07.030 目的意义 石墨烯作为一种新型纳米材料，其独特的二维单原子层结构赋予了它许多新颖特性，如优异的机械性能、良好的导热和导电性能等，其在诸多领域均表现出良好的应用前景。基于石墨烯与锂离子电池活性电极材料的复合，一类新型纳米复合电极材料正成为科学界和工业界重点关注的能源材料体系。尽管能源电极材料的振实密度对于其实际应用至关重要，目前国际国内尚无石墨烯基复合电极材料的振实密度测试的相关标准，其主要原因是各种维度、结构和形态的石墨烯基复合电极材料在不同的堆积方式下及不同形态的测试器皿中具有不同的振实体积，致使现存的颗粒及粉末振实密度测试方法完全无法应用于该类新型的纳米材料体系；制定该类材料的振实密度测试标准对推进材料的实际应用无疑具有极其重要的意义。 范围和主要技术内容 本标准提供石墨烯基复合电极材料振实密度的测定方法，即要求在考虑石墨烯基复合电极材料的结构及形态特征的基础上，将未排列及预排列的样品置于器皿形状与材料维度相匹配的器皿中振实；本标准提供一种对石墨烯基复合电极材料的振实密度进行表征的指导。 技术内容：使用振实密度测试仪将精确称量的具有不同堆积方式的石墨烯基复合电极材料根据材料的维度等结构形态信息在不同形状的体积测试器皿中进行振实，以石墨烯基复合电极材料的质量除以材料经振实后的体积，得到其振实密度值。具体为样品堆积方式的确定、器皿形状的选择、样品量的确定、振实过程的控制等，重复进行三次样品振实密度测试，确保数据可靠性。 国内外情况 国内尚无针对纳米材料－石墨烯基复合电极材料进行其振实密度测试的标准方法。 3 第1页，共3页