SJT9534 1993半导体集成电路质量分等标准.pdfVIP

中华人民共和国电子行业标准 半导体集成电路质量分等标准 Sd/T9534--93 Cradingstandardofqualityfor semiconductorintegratedcircuits 主题 内容与适 用范围 主题 内容 本标准规定了半导体集成电路的产品质量等级及其要求。 适用范围 本标准适用于半导体集成电路，是考核半导体集成电路产品质量等级的依据。 本标准应与有关总规范、分规范及详细规范一起使用。 2 引用标准 GB4589.1 半导体器件 分立器件和集成电路总规范 GB459。 半导体集成电路机械和气候试验方法 GB/T12750 半导体集成电路分规范(不包括混合电路) 质量分等和各质量等级的技术要求 半导体集成电路产品质量等级分为三等:优等品、一等品、合格品。 3.1 优等品:符合GB4589.1;GB/T12750中I类要求的产品或通过质量认证的 【类产品。 3.2 一等品:符合GB4589.1;GB/T12750中I类要求的产品。 13 合格品:符合GB4589.1;GB/T12750中t类要求的产品。 4 质量分等的质量一致性要求 4.1 逐批检验 4.1.1 A组检验 4.1.1.1 优等品、一等品:A组检验项目全部考核。 4.1.1.2 合格品:只进行A1,A2,A3,A3a,A3b,A4项目考核(见表 1)e 中华人民共和国电子工业部 1993-07-13批准 1993-11-01实施 S)/T9534-93 表 l 分组 试验项 目 优等品 一等品 合格品 A 1 外部 目检 X X X A2 25℃下功能验证(若无其他规定) X X X A2a 最高工作温度下的功能验证” X X A2b 最低工作温度下的功能验证1， X X A3 25℃下的静态特性 X X X A3a 最高工作温度下的静态特性” X X X A3b 最低工作温度下的静态特性” X X X A4 25℃下的动态特性 X X X A4. 最高工作温度下的动态特性)1 x x A4b 最低工作温度下的动态特性11 X X 注 1)如果制造厂能定期(应在C26分组定期验证相关性)证明两个极限温度下的试验结果与25℃下的 试验结果相关(相关测量见GB/T1275。中的12.5条)，则制造厂可以使用 25℃下的试验结果. 4.1.1.3 功能、电性能:三个等级产品的功能、电性能均应符合相应的详细规范。 4.1.2 B组检验 三个等级产品的技术要求，均按GB/T12750中表3的规定要求。 4.2 周期检验 4.2.1 C组检验 除C7分组外，三个等级产品的技术要求均按GB/T12750中表4的规定要求。 C7分组(稳态湿热)按表2规定。