16(扫描探针显微分析法).pdfVIP

材 第五章 扫描探针显微分析技术 料 现 代 §1.原子力显微分析法 分 析 §2.扫描隧道显微分析法 技 术 （第十八章第四节） 材 §1. 原子力显微分析法 料 AFM 现 代 分 一、 原子力显微分析的基本原理 析 principle of AFM 技 二、 原子力显微分析的应用 术 applications of AFM 一、原子力显微分析的基本原理 材 现代表面技术分析的发展 料 现  1933年德国Ruska和Knoll等人在柏林制成第一台电子 代 显微镜后，几十年来，有许多用于表面结构分析的现 分 代仪器先后问世：e.g.透射电子显微镜（TEM ）、扫 析