数字射频存储器用DAC静态参数的表征及测试.pdf

第 26 卷 　第 4 期 半 　导 　体 　学 　报 Vol . 26 　No . 4 2005 年 4 月 　　 C H IN ESE J OU RNAL O F SEM ICONDU C TOR S 　　Ap r . ,2005 数字射频存储器用 DAC 静态参数的表征与测试 1 ,2 1 2 2 2 张有涛 　夏冠群 　李拂晓 　高建峰 　杨乃彬 ( 1 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 , 上海 　200050) (2 南京电子器件研究所 , 南京 　2 100 16) ( 摘要 : 分析并讨论了应用于相位体制数字射频存储器的DA C 静态参数的表征方法. 提出用时间非线性 TDNL 和 ) ( ) ( ) TINL 、幅度非线性 ADNL 和 A INL 以及相位非线性 PNL 来全面描述相位体制 DA C 的静态性能. 仿真结果证 明上述静态参数对 DA C 的频域性能有着显著影响 ,用它们表征相位体制 DA C 的静态性能是必要且可行的. 采用 上述方法对利用标准 75mm GaA s M ESF E T 全离子注入工艺流片得到的 3bit 相位体制 DA C 进行了低频静态测 试 ,其静态参数优异 ,性能良好. 关键词 : 静态参数 ; 数模转换器 ; 非线性 ; 表征 EEACC : 2570A ; 1265 H ; 73 10Z 中图分类号 : TN43 1 1 　　　文献标识码 : A 　　　文章编号 : 02534 177 (2005) 相位体制 DA C. 该相位体制 DA C 能够从 4 路数字 1 　引言 信号重构出2 路正交的正弦波信号. 芯片形貌照片 如图 1 所示 , 电路尺寸为 08mm ×08mm ,各功能 ( ) 相位体制数模转换器 DA C 的作用是将含有 模块已经在图中标示. 相位信息的数字码转换为具有特定相位的模拟信 号 ,而对输出模拟信号的具体幅度没有严格要求. 由 于它的转换对象是相位量 ,并且易于实现 ,得到的信 号频谱在理想情况下最大谐波位于 7 次谐波 ,十分 方便系统的后续处理 ,所以被广泛应用于相位体制 ( ) [ 1～6 ] 的数字射频存储器 DR FM 等系统中 . 但是 ,这 种相位体制 DA C 的评价测试方法尚不完善 , 未成 体系. 本文依据传统的幅度 DA C 的参数分析方法 结合相位 DA C 的特点 ,分析并提出一套能够真实 、 图 1 　3bit 相位体制 DA C 芯片照片 有效反映相位体制 DA C 性能的静态参数 ,并以3bit Fig . 1 　Chip p hoto of GaA s 3bit p ha se DA C 单片相位体制 DA C 为实例统计其静态参数 , 结果 表明其静态性能优异.