EDA课件_第二章.pptVIP

*/100 JTAG */100 JTAG边界扫描测试 20世纪80年代，联合测试行动小组（joint test action group，简称JTAG）起草了边界扫描测试规范（boundary-scan testing，简称BST） 1990年被批准为IEEE标准1149.1-1990规定，简称JTAG标准 边界扫描测试的优点： 1、方便芯片故障定位，提高测试检验效率 2、通过边界扫描通道，实现某些特定的功能 */100 AS：Active Serial Mode */100 两者的功能基本相同，编程等过程也基本相同（烧写文件不一样，但是是由软件自动产生），只是芯片内部的实现原理和结构略有不同，所以对初学者，可以忽略这两者的区别 深入浅出玩转FPGA 网址 / */100 */100 */100 */100 */100 */100 Complex Programmable Logic Device CPLD是在PAL、GAL的基础上发展起来的阵列型PLD 具有高密度、高速度的优点 CPLD包括三大部分 可编程阵列块（宏单元） 可编程I/O单元 可编程内部连线（PIA） */100 与PAL、GAL相比，CPLD的集成度更高，有更多的输入端、乘积项和更多的宏单元； */100 宏单元（Marocell） 可编程连线（PIA） I/O控制块 */100 宏单元