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gan基材料及其外延生长技术研究 research for gan-based materials and epitaxy growth technologies
纳米材料与结构
NanomateriaIStructure
GaN基材料及其外延生长技术研究
刘一兵1,2,黄新民L2,刘国华1’2
(1.湖南大学电气与信息工程学院,长沙410082;
2.邵阳职业技术学院机电工程系,湖南 邵阳422000)
材料的选择及缓冲层技术;分析得出目前存在的GaN体单晶技术不完善、外延成本高、衬底缺
陷及接触电阻大等主要问题制约了研究的进一步发展;指出今后的研究重点是完善GaN体单晶
材料的生长工艺,以利于深入研究GaN的物理特性及有效地解决衬底问题,研究缓冲层的材料、
厚度、组分等以提高GaN薄膜质量。
关键词:氮化镓;金属有机物化学气相淀积;分子束外延;氢化物气相外延;缓冲层
Materialsand
ResearchforGaN.Based
Growth
Epitaxy Technologies
Liu Xinminl’2LiuGuohual·2
Huang
Yibin91·2
and
ofElectricdInformationEn∥needng,HunanUnwenay,Chan伊ha410082,China;2.Departmentof
f1.College
and
MechanicalElectrical 422000.China)
Engineering,ShaoyangProfessional—TechnologyCollege,shaoyang
basic ofGaN—based
Abstract:The materials,three technologies
properties mainlyepitaxygrowth
materialsandbuffer areintroduced.The
(MOCVD,MBE,HVPE),substratelayers mainlyremaining
arethe GaNbulk rate,moredefect,
technology,highepitaxycost,lowyield
problems faulty crystal
contactresistanceandSO influencetheresearch furtherresearch
large on,which progressdeeply.The
focusisto GaNbulk methodfor GaN solve
improve crystalgrowth studyingphysicalproperties,to
substrate the and ofbuffer for
problemseffectively,tostudy material,thicknesscompositionlayers
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