rf id智能卡可靠性预计模型的研究 study on reliability prediction model of rf id smart card.pdfVIP

第37卷第6期 微电子学 V01．37，No．6 2007年12月 胍，oP跏f，o啊fcs Dec．2007 RF ID智能卡可靠性预计模型的研究 张超，阳辉，方葛丰，陈洪云，何怡刚 (湖南大学电气与信息工程学院，长沙410082) 摘 要： 通过对集成电路可靠性预计模型的理论和RFID智能卡结构的研究，结合MIL-HDBK- 217F，建立了RF ID智能卡可靠性预计模型，使RFID智能卡研制进程有定量分析结果作为依据， 避免了因缺乏实现可靠性、维修性指标所必须采取的技术措施，或因所采取的措施带有很大的盲目 性而造成经济上和时间进度上的重大损失。 关键词： 可靠性预计模型；电路失效；RFID；智能卡 中图分类号： TN406 文献标识码： A on PredictionModelofRFIDS