AgilentLVDS传输系统测试方案-李凯.PDFVIP

Agilent LVDS 传输系统测试方案 －李凯 LVDS 是低压差分信号的简称，由于其优异的高速信号传输性能，目前在高速 数据传输领域得到了越来越多的应用。其典型架构如下： 一般 LVDS 的传输系统由 FPGA 加上 LVDS 的 Serdes 芯片组成， LVDS 的 Serializer 芯片把FPGA 的多路并行数据通过时分复用的方法变成较少路数、较 高速率的串行LVDS 信号进行传输，接收端的de-Serializer 芯片再把接收到的 串行LVDS 信号解成多路并行数据。其好处在于FPGA 通过外挂的LVDS 芯片可以 方便可靠地以高速率把内部数据传输出去，如NS、TI 等公司大量提供这种LVDS 的Serdes 芯片。 对于LVDS 系统的测试，主要涉及以下几个方面： 1/ FPGA 内部逻辑和并行接口测试，用于保证数据处理和控制的正确性； 2/ 高速串行LVDS 信号质量测试，用于保证LVDS 信号的正确传输； 3/ 高速互连电缆和PCB 的阻抗测试，用于保证传输链路的信号完整性； 4/ 系统误码率测试，用于验证系统实际传输的误码率；