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第10讲薄膜材料物理第四章薄膜的表面和界面
第10讲 第4章 金属薄膜的导电 第四章 薄膜的表面和界面(续) 第10讲 在研究薄膜中,表面:固体和气体或真空的分界面 界面: 固体和固体的分界面 几何表面:表面的几何分界面。 物理表面:一个电子结构不同于内部的表面区域 由于具体的材料不同,表面区的厚度有很大的差异 薄膜的常用厚度为几十到几百nm. 金属的表面区只有一.二个原子层; 半导体的表面区,却有几个,甚至几千个原子层; 电介质的表面区更厚。 §4—3 电接触 4.3.1 逸出功和接触电势差 认为表面电势近似为突变如图 图中:E0:表示真空中静止电子的能级 金属 n型半导体 电介质 Ec:导带底 Ev:价带顶 Ec即是晶体中自由电子所具有的最低能级,它相当 于晶体中静止的自由电子的能量. W:真空能级与导带底能级之差,即将晶体中静止 电子移至晶体处真空中所需要的能量——电子亲和能 逸出功Φ: 是将电子从费米能级EF移至真空中所需要 的最小能量,若以Ec为参数能级, 则 EF 费米能级是系统的化学势能,即是系统中增加一个 电子所引起系统自由能的变化。 接触电势差是逸出功不同的两个物体接触以后, 由于电子从逸出功小的物体流向逸出功较大的物体, 最后达到平衡状态,两物体的费米能级相同。 结果前者带正电,电势降低;后者带负电,电势升高; 在两者之间产生了电势差——接触电势差 式中V1和V2分别为物体1和2的逸出电势 4.3.2 金属与金属的接触 例如Ag(银)和铜接触,逸出功不同 从能量观点来看,电子将从逸出功较小的金属 向另一金属流动,直到最高能量的电子在这两种金 属中占有相同的能级。 接触前能级图 接触后能级图 两金属自由电子浓度不同也要引起电势差,因为 浓度大的要向浓度小的一方扩散,从而前者带正电, 后者带负电。有自由电子论知,其静电电势差为: 所以,两个金属的接触电势差为: 上述是在理想接触情况下的结果事实上, 接触有三种如下: a.紧密接触 式中ρ为金属的电阻率,Q为凸点的半径若有n个 接触点,则总电阻为: 设间隙的宽度为d 假设金属中的一个 电子到x处, 金属1 金属2 当xd-x时,电子受到金属的吸引力为: (忽略多级镜像力) 因此,电子离开金属1后,反抗吸引力f多作用的功为: 当dx , x→∞时, 显然: 为金属1的逸出功 若在外加电场E作用下如图,则电子所受电场力为 -qE,势能为-qEx.所以,电子由金属1→2所需要的功为: 同样分析,电子由金属 2→1所需的功为: 根据肖特基发射理论, 金属1 金属2 总电流密度: 在强电场下,qEdkT,则有: 式中: 由此可得出间隙的电导率和电阻率分别为: 三种接触电阻是并联的,并且R1R2R3 4.3.3 半导体与半导体接触 半导体导电类型 电子导电→n型半导体 空穴导电→p型半导体 同质接触→Pn结 异质接触 依结的宽度可分为: 实变型结:结宽仅有几个原子长度的范围内 缓变型结:结宽在几个扩散长度范围内 单边实变结:过渡在一种半导体中只有几个 原子长度,而在另一种半导体中却为几个扩散长度 同质方法 P型半导体和N型半导体接触 这时,空间电荷层具有一定的厚度,其厚度与接触 类型和材料而异,通常是微米数量级。两边存在电位 差,其中电荷分布与电位关系服从泊松方程,由 空间电荷层 电位分布 能级图 在反向连接情况下,耗尽层(空间电荷层)加宽, 几乎没有多数载流子电流。但是,这时对于P型半导 体中少数载流子空穴来说却是正向连接,形成少数载 流子的电流(μA数量级)——饱和电流 在正向连接情况下,耗尽层变窄,多数载流子形成 大电流(mA数量级)。这时,外加电流与自建电场方 向相反,所以多数载流子的飘移电流减小,而扩散电 流不变,因而流经p-n结的净电流是扩散电流。 下面建立流过p-n结的电流密度(正向连接)公式: P接负,n接正→电流很小(称为反向连接) P接正,n接负→电流很大(称为正向连接) P-N结具有整流特性: (a)平衡状态下 P型 N型 (b)加正电压V下 P型 N型 电子处于能量为E的状态几率为: 在p-n结的n型材料一边,导带中的电子数: 其中具有能量 的电子数为: 若在P型半导体上加以正电压V,则其费米能级下降qV。 在这种情况下,虽然 不变, 但是,在n型半导体一边具有能量为 的电子数nn’’不再是平衡状态下的nn’,而是 因此有: 在平衡状态下,可移动的载流子处于稳定平衡状态。 P型半导体导带中的电子数 应当等于 和
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