基于双重人工神经网络的XP-70绝缘子串污闪概率模型的建立.pdfVIP

2008年12月 电工技术学报 V01．23No．12 TRANSACTIONSOFCHINA 第23卷第12期 ELECTROTECHNICALSOCIETY Dec． 2008 基于双重人工神经网络的XP一70绝缘子 串污闪概率模型的建立 徐建源1滕云1林莘1齐伟夫2 110023 110003) (1．沈阳工业大学电气工程学院沈阳 2．沈阳供电公司 沈阳 摘要 针对高压电网运行中绝缘子污闪风险概率评估的困难，建立了XP一70(9片串)绝缘 子的基于双重人工神经网络的污闪概率模型．污闪概率模型比较准确地反映了环境因素、等值附 盐密度(ESDD)、污秽闪络电压水平及污秽闪络概率之间的非线性关系，建立了包括估计绝缘子 的自然积污污秽度、预测绝缘子污秽闪络电压值及根据前两个模型的输出结果计算出该绝缘子污