原子力显微镜对几种纳米材料的结构表征研究-本原扫描探针.PDF

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原子力显微镜对几种纳米材料的结构表征研究-本原扫描探针

第 卷第 期 # $ 显微与测量 ’()* # +(* $ 年 月 #%% # 84;1(=-;J54K- L 8-:1456 ,-.* #%% 原子力显微镜对几种 纳米材料的结构表征研究 彭 峰, 谢志勇, 王红娟 ( ) 华南理工大学化工与能源学院, 广东 广州 $%D!% 摘 要:原子力显微镜作为一种强有力的表面表征工具,它不仅可以表征表面的三维形貌,还能定 量地研究表面的粗糙度、孔径大小和分布及颗粒尺寸,在许多学科均可发挥作用。本文采用原子力 显微镜对光催化材料、乳胶材料和高分子材料进行表征分析,阐述了它在这些学科中的应用。 关键词:原子力显微镜;纳米材料;表面表征;多学科 n c !#$#%’$()#(*+ *, -#+*.#’$(#/0 1( 2%#++(+3 4$*5’ 6(%$*0%*7’ . IM+0 ,-56H N7M OJ4PQ(56H RG+0 S(56PT5 m 9 A;J(() (F UJ-?4;) 52 M5-16Q M5645--1456H A(=J UJ45 V54W-1:4=Q (F B-;J5()(6QH o C 056XJ( 0562(56 $%D!%H UJ45 c 850$#% 9 G,8 4: @(Y-1F) =(() F(1 :1F;- ;J1;=-14X=4(5* 7= ;5 .- @@)4-2 =( ?5Q :;4-5=4F4; F4-)2:* 75 =J4: @@-1 =J- . @@)4;=4(5 (F G,8 45 =J- ;J1;=-14X=4(5 (F @J(=(;=)Q=4;) ?=-14) H )=-Z ?=-14) 52 1..-1 ?=-14) Y: @1-:-5=-2* :’;1*$0 9 G,8[ 55(?=-14)[ :1F;- ;J1;=-14X=4(5[ ?)=4:;4-5;- m 中图分类号: 文献标识码: 文章编号: 9 C BS\!# G $$# ] $/ $ #%% % $ ] %%! ] %! p s . % 引言 w AB8 要求样品表面能够导电,从而使得AB8 只能 直接观察导体和半导体的表面结构;对于非导电 $/# 年,0-12 3455456 及其合作者在738 公 的物质则要求样品覆盖一层导电薄膜,但导电薄 w 司苏黎世实验室共同研制成功了第一台扫描隧道

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