基体效应校正-仪器信息网.ppt

1 X射线荧光光谱分析技术 一、基础理论 二、仪器的结构与分析条件的选择 三、定量分析方法和基体效应校正 四、SPECTRAplus 软件介绍 一、基础理论 X射线的产生 连续谱线 特征谱线 X射线的性质 吸收 散射 衍射 电磁辐射 X射线的产生 X射线的产生: 特征谱线（光电效应） 会产生特征谱线的元素 荧光产额 特征谱线 特征谱线 特征谱线 谱线的相对强度 X射线的性质 作为一种电磁波，具有波粒二相性的特点： 光电效应 吸收 散射: 相干散射 不相干散射 衍射 二、仪器结构： 原理图 X射线光管发射的原级X射线入射至样品，激发样品中各元素的特征谱线 分光晶体将不同波长l的X射线分开 计数器记录经分光的特定波长的X射线光子 N 根据特定波长X射线光子 N的强度，计算出与该波长对应的元素的浓度 仪器型号: S4 PIONEER(S4 EXPLORER) X射线光管：发射X射线的原理 X射线光管 ：端窗光管示意图 X射线光管 X射线光管发射的原级谱线 选择电压、电流的依据 重元素选择大电压、小电流 轻元素选择小电压、大电流 软件提供了各条谱线的优化条件 仪器结构: 初级滤光片作用一、抑制Rh的谱线 仪器结构: 准直器面罩 准直器面罩的作用相当于光栏: 挡住样品杯的信号 34 mm的准直器面罩可以将来自34 mm 样品