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嵌入式存储器容错方案可靠性评价-微电子学
第 卷第 期 微 电 子 学 ,
45 2 Vol.45 No.2
年 月
2015 4 Microelectronics A r.2015
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嵌入式存储器容错方案可靠性评估
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支 天 杨海钢 蔡 刚 秋小强
( , ; , )
1.中国科学院 电子学研究所 北京 100190 2.中国科学院大学 北京 100190
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摘 要 随着工艺节点的不断降低 存储器的软错误率呈指数趋势上升 容错技术已成为存储器
。 , ( :
设计 中的重要环节 依据美国 NASA Rosetta实验数据 对错误检纠错码 EDAC Error
DetectionandCorrection)和不同的在线刷新模式组成的多种容错方案进行可靠性建模与量化评
, 。
估 提出了不同工艺节点下嵌入式存储器容错技术选择的判据方法 在地面单粒子模拟实验中进
, , 。
行验证 结果表明 该方法预测的失效率评估结果与实验测试结果的平均偏差约为10.3%
: ; ;
关键词 可靠性评估 容错技术 嵌入式存储器
中图分类号: 文献标识码: 文章编号: ( )
TN406 A 1004-3365201502-0275-06
Im actAnalsisofSoftErrorMitiationforEmbeddedMemories
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ZHITian YANGHaian CAIGan QIUXiaoian
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1.Instituteo Electronics ChineseAcadem o Sciences Beiin 100190 P.
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