面向嵌入式系统的I2C总线设计和测试——校验和测试策略-Cypress.PDFVIP

2 面向嵌入式系统的面向嵌入式系统的I C 总线设计和测试总线设计和测试 ———— 校验和测试策略校验和测试策略 面向嵌入式系统的面向嵌入式系统的 总线设计和测试总线设计和测试 ———— 校验和测试策略校验和测试策略 By (Jon Pearson Cypress 半导体公司) 2 I C 是一种中低数据速率主/从通信总线。物理层是一种简单的信号交换协议，该协议基于总线设备以 及用于驱动或释放总线线路的设备之上的集电极开路输出。简单的硬件设计和较低的数据速率使得所 2 有的工程师都能够利用 I C 作为一种通信解决方案。由于大多数微控制器供应商在其大部分器件上均 提供了 I2 主控器和从动器功能，因此嵌入式产品设计师在利用 2 时不会遇到任何障碍。设计定制 C I C 2 I C 从设备时的设计依据是第一部分重点阐述的内容。在这第二部分中，我们将着重讨论旨在实现定制 2 I C 从设备的平稳校验的相关策略。 测试策略产生自设计策略测试策略产生自设计策略 测试策略产生自设计策略测试策略产生自设计策略 要想实现平稳、顺利的设计，就需要采取一种计划校验策略，这是理所当然的。当采用一个主/从通信 系统时，这两部分均需进行校验。把校验推迟到主控器和从动器通信操作完成之后进行是错误的策略。 下文所述是一种旨在尽可能独立地对主控器和从动器进行有效测试的策略。 有利于实现成功设计的规则和指导方针在第一部分中有所介绍。在我们第一部分（设计阶段）的 讨论中， 个要素特别支持一种有效校验： 4 1） 明确定义的接口， 2 ） 主控器启动所有的转移，并支持从动器的“紧急”调用， ）使从动器的通信协议与主功能任务无关，以及 3 4 ） 从动器始终保持数据相干性。 虽然设计阶段中的每项工作都对校验产生影响，但是，以上列举的事项是支持我们的测试策略的 特殊考虑。该策略可被概括为： ·分别测试主控器和从动器， [+] Feedback ·通过采用尽可能“真实”的环境来提高测试覆盖率， ·把从动器和主控器放在一起，以实现早期和经常性的集成。 分别测试主控器和从动器分别测试主控器和从动器 分别测试主控器和从动器分别测试主控器和从动器 我们把自己的主控器和从动器设计成分离、非耦合式的，而且设计过程专注于开发与设计细节没有关 联的接口（见第一部分）。不管是在物理结构上还是在时间顺序上，主控器和从动器的这种分离型设计 都支持对每个部分进行单独测试。但是，为了成功地测试主控器并获得可以信赖的结果，在早期必须 存在某种形式的从动器，即测试从动器。这种测试从动器应该是一种设计外壳程序，用于提供商定的 接口和一些额外的测试连接程序（比如：一个环回或一个包含稍有改动的数据的附加寄存器）。 “外壳程序（shell ）”从动器的目标是使得主控器能够实现并测试其接口。适合这种“外壳程序”或测 试从动器的最佳平台是将被用于从动器开发的微控制器。事实上，如果采用相同的设备来测试最终将 被用于开发末级从动器的主控器，则该“外壳程序”将提供用于从动器接口的测试平台（从动器的第 一级开发）。 为了把从动器的测试侧构成为一个单独项，将需要比实际主控器所能提供的更多的主控器功能。在您 的计划（它已经是一个严密