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实验七静电场及描绘
实验五 静电场的描绘
实验目的
1.学习用模拟法测绘静电场的原理和方法。
2.加深对电场强度和电位要领的理解。
实验仪器
GVZ一3型导电微晶静电场描绘仪(导电微晶、双层固定支架、同步探针等),支架采用双层式结构,上层放记录纸,下层放导电微晶。电极已直接制作在导电微晶上,并将电极引线接出到外接线柱上,电极间有电导率远小于电极且各项均匀的导电介质。接通直流电源〔10V)就可进行实验。在导电微晶和记录纸上方各有一探针,通过金属探针臂把两探针固定在同一手柄座上,两探针始终保持在同一铅垂线上。移动手柄座时,可保证两探针的运动轨迹是一样的。由导电微晶上方的探针找到待测点后,按一下记录纸上方的探针,在记录纸上留下一个对应的标记。移动同步探针在导电微晶上找出若干电位相同的点,由此便可描绘出等位线。
实验原理
在一些科学研究和生产实践中,往往需要了解带电体周围静电场的分布情况。一般来说带电体的形状比较复杂,很难用理论方法进行计算。用实验手段直接研究或测绘静电场通常也很困难。因为仪表(或其探测头)放入静电场,总要使被测场原有分布状态发生畸变;除静电式仪表之外的一般磁电式仪表是不能用于静电场的直接测量,因为静电场中不会有电流流过,对这些仪表不起作用。所以,人们常用“模拟法”间接测绘静电场分布。
一、模拟的理论依据
模拟法在科学实验中有极广泛的应用,其本质上是用一种易于实现、便于测量的物理状态或过程的研究,以代替不易实现、不便测量的状态或过程的研究。
为了克服直接测量静电场的困难,我们可以仿造一个与静电场分布完全一样的电流场,用容易直接测量的电流场模拟静电场。
静电场与稳恒电流场本是两种不同场,但是它们两者之间在一定条件下具有相似的空间分布,即两场遵守的规律在形式上相似。它们都可以引入电位U,而且电场强度;它们都遵守高斯定理:对静电场,电场强度在无源区域内满足以下积分关系
∮E·ds = 0 ∮E·d l = 0
对于稳恒电流场,电流密度矢量J在无源区域内也满足类似的积分关系
∮J·ds = 0 ∮J·d l = 0
由此可见,E和J在各自区域中满足同样的数学规律。若稳恒电流空间均匀充满了电导率为σ的不良导体,不良导体内的电场强度E′与电流密度矢量J之间遵循欧姆定律
J=σE′
因而,E和E′在各自的区域中也满足同样的数学规律。在相同边界条件下,由电动力学的理论可以严格证明:象这样具有相同边界条件的相同方程,其解也相同。因此,我们可以用稳恒电流场来模拟静电场。也就是说静电场的电力线和等势线与稳恒电流场的电流密度矢量和等位线具有相似线的分布,所以测定出稳恒电流场的电位分布也就求得了与它相似的静电场的电场分布。
二、模拟长同轴圆柱形电缆的静电场
利用稳恒电流的电场和相应的静电场其空间形成一致性,则只要保证电极形状一定,电极电位不变,空间介质均匀,在任何一个考察点,均应有U稳恒=U静电,或E稳恒=E静电。下面以同轴圆柱形电缆的“静电场”和相应的模拟场—“稳恒电流场”来讨论这种等效性。
1.同轴电缆及其静电场分布:
如图1(a)所示,在真空中有一半径ra的长圆柱导体A和一个内径rb的长圆筒导体B,它们同轴放置,分别带等量异号电荷。由高斯定理可知,在垂直于轴线上的任何一个截面S内,有均匀分布辐射状电力线,这是一个与坐标Z无关的二维场。在二维场中电场强度E正平行于xy平面,其等位面为一簇同轴圆柱面。因此,只需研究任一垂直横截面上的电场分布即可。
距轴心O半径为r处「图1(b)」的各点电场强度为
图1同轴电缆及其静电场分布
式中λ为A(或B)的电荷线密度。其电位为
(1)
若r = rb时,Ub = 0则有
代入式(1)得
(2)
距中心r?处 (3)
2.同柱圆柱面电极间的电流分布
若上述圆柱形导体A与圆筒形导体B之间充满了电导率为()的不良导体,A、B与电源正负极相连接(见图2),A, B间将形成径向电流,建立稳恒电流场,可以证明不良导体中的电场强度与原真空中的静电场Er是相等的。
取厚为t的圆柱形同轴不良导体片来研究,材料的电阻率为ρ则半径r的圆周到半径为(r+dr)的圆周之间的不良导体薄块的电阻为
(4)
半径r到r0之间的圆柱片电阻为
(5)
由此可知半径ra到rb之间圆柱片的电阻为
图2同轴电缆模拟电极
(6)
若设U0 = 0,则径向电流为
(7)
距中心r处的电位为
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