电容屏ito电路缺陷自动检测光照研究 design of imaging system for pctp ito pattern defect automatic detection.pdfVIP

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2017-09-04 发布于上海
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电容屏ito电路缺陷自动检测光照研究 design of imaging system for pctp ito pattern defect automatic detection.pdf

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电容屏ito电路缺陷自动检测光照研究 design of imaging system for pctp ito pattern defect automatic detection

2016年5月机床与液压 Mav2016 第44卷第10期 MACHINETOOLHYDRAUUCS V01．44No．10 DOI：10．3969／j．issn．1001—3881．2016．10．013 电容屏ITO电路缺陷自动检测光照研究刘向阳1，刘志军1，姜长城2，全燕鸣2 (1．广州航海学院，广东广州510725；2．华南理工大学，广东广州510641) 摘要：ITO材料与玻璃基板的透射与反射系数相近而使高速扫描CCD很难采集到高对比度图像，电容触摸屏的ITO电路上下双层结构使光源倾角与相机倾角不平行时照明光经过多次透射与反射后会出现无序叠加。采用光源倾角与相机倾角平行的透射照明方式能避免光强无序叠加，并能提高玻璃基板图像和ITO图像的对比度，光照强度优化实验表明：光强较弱时CCD曝光不足将导致图像过暗并存在横向条纹干扰，随光强增大图像灰度直方图双峰现象凸显，在光照等级达到200 时达到最佳。之后变化不明显。关键词：缺陷检测；线阵CCD；ITO电路；图像对比度中图分类号：THl64；0439文献标志码：B 文章编号：1001-3881(2016)10-041-4 Detection of forPCTPITOPatternDefectAutomatic DesignImagingSystem LIU Xiangyan91，LIUZhijunl，JIANGChangehen92，QUANYanmin92 Maritime 5 (1．GuangzhouInstitute，GuangzhouGuangdong10725，China； 2．SouthChina of 51064 UniversityTechnology，GuangzhouGuangdong1，China) transmissionandreflectioncoefficientsofITOmaterialsand substrateare contrastis Abstract：The glass similar，SOhi29h image difficulttocollect CCD．ITOcircuitof touchscreensisdividedinto andlowerdouble．Mumi— byhighspeedscanning capacitive upper nationwillshow severaltransmissionand the isnot reflection，when light disorderlysuperpositionphenomenon，after lightangle paral— valuebetweenthe sub— lelwithcalnera couldbe contrast disorderly avoided，and angle．Lightintensity superpositionphenomenon glass strateandITO wasincreasedwhentran