Ram Stress Test _专业内存检测工具使用说明.pdf

使用非常简易，只要设定为软碟开机就行了，他是一个独立开发的系统，没有依附任何作业 系统，相容于 x86 系列，只要 BIOS 认的到的容量他都能测！！ 发现 ATS 选项错误，在 BIOS 中，记忆体选项设成 Auto 时，记忆体的 CL=2，改成 Manual ， 自设CL=2.5 时，上述选项才能通过。 附件 IMZ 需要用 winImage 展开到软盘上，然后用此软盘启动系统。 附件 NRG 是用 Nero 烧录可启动光盘的软盘镜像文件。 程序执行后，第一选项是测试物理内存中基本内存地址（640K ），第二项是扩展内存 地址，第三项是测试你 CPU 的L2 cache 。 Ram Stress Test 是美国Ultra-X 公司旗下的一个专业记忆体测试程式，专门给系统生产厂商出机前测试用的， 它其实是从其它的产品中独立出来的一项测试。该公司专做系统测试的软硬体，方便生产厂商进行产品详 细测试。R.S.T.在目前记忆体生产业使用非常普遍，因为经过它的测试几乎就能应付大部分的记忆体问题。 在没有专业的内存维修工具出现以前，此内存检测软件是电脑维修人员修理内存的最好工具，以 99%的测 试准确率在维修行业中有目共睹。 这个软体满金贵的，国外售价 500 多美金！ 即使不是维修人员，如果您的系统有莫名其妙的当机状况或是想要超频记忆体，不用怀疑，请用R.S.T. ！ 几点说明： ☆ 可以测试 SD 及 DDR 内存。 ☆ 闪动数字——0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 依次代表内存条的 8 颗颗粒。 从左到右横着数：0-7 代表第 1 颗粒区域、8-F 代表第 2 颗粒、0-7 代表第 3 颗粒、8-F 代表第 4 颗粒、0-7 代表第 5 颗粒代、8-F 代表第 6 颗粒、0-7 代表第 7 颗粒、8-F 代表第 8 颗粒 ☆ 点不亮内存的测试方法——很多内存短路或者颗粒损坏后都不能点亮，点不亮的可以用一根好的内存 去带动它（可解决部分点不亮问题）。必须 SD 的带 SD 的，DDR 的带DDR 的。本软件会自动跳过好的去 检测坏的那根。 ☆ 发现 ATS 选项错误，在 BIOS 中，记忆体选项设成 Auto 时，记忆体的 CL=2，改成 Manual ，自设CL=2.5 时，上述选项才能通过。 ☆ 程序执行后，第一选项是测试物理内存中基本内存地址（640K ），第二项是扩展内存地址，第三项是 测试 CPU 的 L2 cache Ram Stress Test 是美国 Ultra-X 公司旗下的一个专业记忆体测试程式，是专门给系统生产厂商出机前用的 测试程式，他其实是从其他的 产品独立出来的一项测试，该公司专作系统测试的软硬体，方便生产厂商将产品做详细测试，至于 R.S.T. 在目前记忆体生产业使用非常普遍 ，因为经过他的测试几乎就能应付大部分的记忆体问题，所以是非常好用的一个测试工具！！ 使用非常简易，只要设定为软碟开机就行了，他是一个独立开发的系统，没有依附任何作业系统，相 容于 x86 系列，只要 BIOS 认的到的 容量他都能测！！ 若出现 ATS 选项错误，可在 BIOS 中，将记忆体（内存）选项设成 Auto 时，记忆体的 CL=2，改成 Manual，自设 CL=2.5 时，上述选项才 能通过。 操作方法： 程序执行后，第一选项是测试物理内存中基本内存地址（640K），第二项是扩展内存地址，第三项是测 试你 CPU 的 L2 cache。 ☆ 可以测试 SD 及 DDR 内存。 ☆ 闪 动 数 字 ——0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 依次代表内存条的 8 颗颗粒。 从左到右横着数：0-7 代表第 1 颗粒区域、8-F 代表第 2 颗粒、0-7 代表第 3 颗粒、8-F 代表第 4 颗粒、0-7 代表第 5 颗粒代、8-F 代表第 6 颗粒、0-7 代表第 7 颗粒、8-F 代表第 8 颗粒 vmavzk ☆ 点不亮内存的测试方法——很多内存短路或者颗粒损坏后都不能点亮，点不亮的可以用一根好的内存 去带动它（可解决部分点不亮问题 ）。必须SD 的带 SD 的，DDR 的带 DDR 的。本软件会自动跳过好的去检测坏的那根。 ⒈DDR 8 位与 16 位的单面测法: