摘要通过对光伏行业常见的几种组件抗pid电势诱导衰减测试方法.docVIP

摘要：通过对光伏行业常见的几种组件抗PID（电势诱导衰减）测试方法进行对比分析，研究不同抗PID测试方法之间的差异以及对测试结果的影响。不同的PID测试方法的差别主要体现在温度和湿度两个方面，本文通过阿累尼乌斯经验公式和气压方程，论述四种不同温度和湿度条件下，PID测试引起组件功率衰减的差异，并阐明四种测试条件之间的相互关联，最后在此基础上推荐一种更加合理、规范的检测方法。 　　关键词： 原始模型、PID衰减、温度、相对湿度、绝对湿度、老化速率、电场 　　1 前言 　　光伏组件的PID现象已经引起了整个光伏行业的高度重视，越来越多的组件生产厂家和相关研究机构对组件PID衰减的诱导机理进行了广泛的研究和分析。影响组件PID衰减的主要外部因素有环境温度、环境湿度，以及系统电压在合金框、玻璃和内部电路之间形成的偏压电场。在对光伏电站长期观察的过程中发现，在组件表面残留晨露或雨水并且有光照的情况下，最容易发生PID现象。2005年，NREL实验室总结了PID现象发生的机理：Na离子在电场作用下发生迁移，至电池片表面富集，形成电离层影响电池片电学特性，造成电池片和组件功率出现大幅度下降。PID现象发生的过程如下 　　钢化玻璃表面的钠碱水解，形成Na离子； 　　Na离子在钢化玻璃表面聚集，通过扩散进入EVA内部； 　　光伏组件边框和电池片之间存在电势差，促使Na离子向电池片表面迁移； 　　Na离子在电池片表面富集，甚至进入电池片表层，形成电离层，降低电池片激发区活性，造成电池片功率下降； 　　J. Berghold等人的研究显示，温度和湿度是影响光伏组件PID现象发生的两个重要因素，较高的组件温度和相对湿度能加速PID现象的发生，但并未阐明不同温度和湿度下光伏组件PID现象发生的快慢差异。到目前为止，光伏行业还没有任何行业标准或国家标准对组件抗PID测试进行详细描述规范。光伏行业对组件抗PID测试的操作方法和实验条件也没有形成统一的共识。因此，本文通过对目前光伏行业出现的各种抗PID测试方法进行模拟对比分析，推荐一种规范、合理的组件抗PID检测方法。 　　2 表征与试验 　　通过一些权威机构和电站运营商对光伏电站的跟踪观察和研究得知，光伏电站中正常工作的组件，在其表面残留晨露或雨水并且有光照的情况下，最容易发生“PID衰减”现象，因此光伏行业普遍认同组件的抗PID测试法方应以此工作环境做为原始依据，即在不同温度和湿度下，给光伏组件施加-1000V电压，模拟导致PID现象的工作环境。 　　2.1 温度差异表征 　　对于任一由温度激发的现象和反应，均可以用 Arrhenius公式来表征： 　　K=Aexp（-Ea/RT） 　　K：速度常数， 　　A：指前因子（或频率因子），Ea：活化能， R=8.314JK-1mol-1 　　R：气体常数 　　T：热力学温度。exp（-Ea/RT）也可写为e（-Ea/RT）指数项无量纲。 　　A的单位与K同 （取对数：LnK=-Ea/RT+LnA 或 LgK=-Ea/2.303RT+LgA） 　　应用阿雷尼乌斯公式计算在不同的温度下PID现象发生的相对速度常数，分析比较在不同温度下PID现象发生的相对速率快慢差异； 　　2.2 湿度表征 　　模拟光伏组件PID现象发生的湿度时采用环境相对湿度 式中： Pv--待测空气水蒸气分压 　Pw--待测空气温度T同温时水的饱和水汽压/（×103Pa）。 相对湿度的差异与PID现象发生的速率快慢有直接的影响，计算相对湿度的差异，可以描述不同湿度条件下PID现象发生的快慢差异。 　2.3 实验样品和实验设备 　本文以在万宇电能科技有限公司制作的8块同批次240W156普通A类多晶组件为例，在不同的温度和湿度条件下进行光伏组件PID测试，根据测试结果与模拟分析结果之间的对比，推荐一种最合理的PID测试条件。 　　电池片为国内某电池片厂家提供的156普通多晶A片，采用相同的原材料和生产工艺，性能一致性较好。组件制作完成后将组件放置在室外，进行初始光衰减预处理，然后测试组件的电学性能参数下表1所示。 Tab.1 ：样品组件初始电学性能参数 实验中用到的主要设备和仪器如Tab.2 所示。 　　 　Tab.2 ： 试验用主要设备及其用途 　　光伏组件实验样品的测试均在生美集团光伏综合实验中心完成。 　　3 结果与分析 　　3.1 行业常见测试方法和测试条件 　　由于目前行业没有统一的组件PID测试方法和标准，导致组件生产厂家和相关检测机构之间出现各式各样的测试版本，下表为光伏行业常见的、比较有代表性的4种组件PID测试方法和相应的测试条件。 　　表3 ： 常见组件PID测试方法和测试条件 　　根据光伏行业组件的PID测试数据经验看，Tab.3中所列举的几种测试方法中，第一种测试