管理材料分析技术(方法)试题及答案4.pdfVIP

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  • 2017-09-06 发布于湖北
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管理材料分析技术(方法)试题及答案4.pdf

材料分析技术(方法)试题及答案4

长 春 理 工 大 学 试 题 纸( A 卷) 编号编号 200 20077 学年学年 第 第二二学期学期 审核责任人签字审核责任人签字 编号编号 200 20077 学年学年 第第二二学期学期 审核责任人签字审核责任人签字 0406112、、113、、114 科目科目 材料材料科学研究科学研究方法方法 参考班级参考班级 、、 、、 科目科目 材料材料科学研究科学研究方法方法 参考班级参考班级 题号题号 一一 二二 三三 四四 五五 六六 七七 八八 九九 十十 总分总分 命题教师命题教师 印数印数 题号题号 一一 二二 三三 四四 五五 六六 七七 八八 九九 十十 总分总分 命题教师命题教师 印数印数 得分得分 得分得分 利平利平 卢卢利利平平 卢卢 评阅人评阅人 评阅人评阅人 得分 一、一、名词解释名词解释 (10 分 每小题 2分) 一一、、名词解释名词解释 1. X 射线光电效应: 2.衍射角: 3.背散射电子: 4. 磁透镜: 5.差热分析: 得分 二、二、填空题填空题 ((20 分 每空 1分)) 二二、、填空题填空题 (( )) 1. X射线管中,焦点形状可分为 和 ,适合于衍射仪工作的是 。 2. X 射线衍射方法有 、 、 和 。 3. TEM 的分辨率是 nm ,放大倍数是 倍;SEM 的分辨率是 nm ,放大倍数 是 倍。 4. 解释扫描电子显微像镜的衬度有 、 和 三种衬度。 5. XRD 是 分析,TEM 是 分析,SEM 是 分析。EPMA 是 分析 6. 光电子能谱是在近十多年才发展起来的一种研究物质表面的 和 的新型物理方法。 得分 三、三、问答题问答题 (共30分) 三三、、问答题问答题 1.X 射线衍射的几何条件是 d、θ、λ必须满足什么公式?写出数学表达式,并说明 d、θ、λ

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