e7%94%b5器触点接触电阻偏大失效机理研究.pdfVIP

继电器触点接触电阻偏大的失效机理研究 李继伟施明哲 刘子莲 (-r业与信息化部电子第五研究所广州510610) 摘 要 本文用试验的方法研究了继电器触点接触电阻增大的失效机理。试验中分别用扫描电镜和x射线 能谱仪观察失效样和正常样的触点形貌并分析触点表面的元素成份。再用红外光谱仪验证了触点污染物的来+ 源。根据试验的分析结果，讨论了触点失效的机理，并提出了改进的建议和可行的措施。本文对继电器失效 的理论和模拟研究具有较大的参考价值，同时为改进触点材料和工艺制造过程提供试验依据。 关键词 密封继电器触点接触电阻失效 中图分类号 文献标识码A The ofFailureMechanismofContact Study Enhacementof Contact Relay Jiwei Liu