XLPE电缆绝缘层残余应力的测试及工艺改进.PDFVIP

维普资讯 2004年 3月 高 电 压 技 术 第 3O卷第 3期 ·1 · ：专题论述 ： XLPE电缆绝缘层残余应力的测试及工艺改进 陈 巨兵 ．沈 勇 ．俞 忠 ，周 雁 ，章铭杰 (1．上海交通大学工程力学系，上海 200240；2．上海马桥 电缆厂，上海 201ll1) TEST oF RESIDUAL STRESSESIN XLPE CABLE ChenJubing ，ShenYong ，YuZhong ，ZhouYan。．ZhangMingjie (1．MechchanicsDept．ShanghaiJiaotongUniversity，Shanghai200240。China； 2．ShanghaiMaqiaoCableFactory．Shanghai201111，China) Abstract TheperformanceofpartsofXIPEcableareinflu 用云纹干涉结合钻孔法l3]、移层法释放残余应 encedintricatelybyresidualstressesinproduction．Itisdif— 力已有较成功范例一-6]，该方法可测到整个被测面 ficuh todetermineresidualstressesbecauseoftheirrandom— ness．Onekindofthreedirectionalgratingisintroducedhere 积上的应变场 。尤其用正交光栅 ，每次可测得两个 inthispaper．Bymeansofmoireinterferencetechnique，a 位移场，通过测试两个位移场残余应力释放前 、后的 new method ofresidualStressmeasurementisdeveloped． 变化 ，再用微分算得三个应变场 ]。本文用 “光栅应 WhentheXIPE specimen isbeingheated．itsresidualstres— seswillrelease。andthen thedisciplinarianofthe released 变花”．即X、y及其 45。夹角三方 向的光栅 ，通过光 residualstressesonthesurfaceofthespecimenwithtemper 栅一次可得 同一面内三个位移场 ：“、“和 “。，进而 aturevariationsisobtained． 得到三个应变 ：E_r、￡和 ，并用它们计算相应的应 Keywords moire interferometry gratingrosette residual 力 。该法可根据应力释放前的Moire条纹图较准确 stress XIPE 摘 要 由于交联聚乙烯 电缆生产过程中产生的残余应力 地调试应力释放后 的位置 ，力求使试件在应力释放 对其绝缘性能影响很大』1．而残余应力的随机性，很难准确 前 、后在同一位置 ，以消除试件移动带来 的误差。 计算其大小及方向．因此采用云纹干涉技术测试交联聚 乙烯 电缆绝缘层的机械 内应力 。通过加热释放残余应力 ．测试得 1 测试原理 出了它随温度和时间变化的释放规律 ：应力释放幅度随温度 的变化 ，在某些温度段呈递增而在另一温度段则呈递减趋 加热或 自然 时效处理会释放 XIPE 电缆绝缘 势 ；应力释放总量 随 自然时效时间的增加而增加 。 层 中的残余应力。云纹干涉技术和移层法可在变化 关键词 云纹干涉 光栅应变花 残余应力 交联聚乙烯 的温度场 内测 出试件表面的变形 即释放 的残余应 中图分类号 O348 文献标识码