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不画图 不画图，只抄题目 不画图，只抄题目 必须抄的，图也得画 3、Xrd光路系统 * 画图 Soller狭缝 Soller狭缝——限制轴向发散度 * 试样要求 粉晶、块状样均可, 表面平整 粉末粒度要细小（10微米左右，定量相分析时要达到2微米以下。） 试样无择优取向(装填时用力不可太大，防止试样产生择优取向，必要时可在样品粉末中加入等体积的细粒硅胶)。 * 三 4、xrd探测器 一维：闪烁计数管、正比计数管、 固体探测器、万特探测器、 超能 探测器、一维高速探测器等； 二维：HyPix?-3000二维半导体 探测器、GADDS面探测器、CCD 和IP板（影像板）等； 三维：PIXcel3D全能矩阵探测器。 探测器 NaI晶体闪烁计数器：具有低背底（0.4cps）、高线性范围2x106cps， Si（Li）固体探测器：具有极佳的能量分辨率。可选择特定能量的光子进行响应。 LynxEye阵列探测器：适合测试速度有特别要求的样品，日常的快速分析、原位分析如高低温和化学反应测量微观结构的动态变化等 *
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