微型杜瓦组件真空加速寿命试验的研究.PDFVIP

第29卷，第3期 红 外 文章编号:1672一5785(2008)0各0011一05 微型杜瓦组件真空加速寿命试验的研究 张亚妮，朱三根，龚海梅 (中国科学院上海技术物理研究所，上海200083) 摘 要:微型杜瓦封装是红外焦平面探测器组件的封装形式之一，而真空寿命则是红 外焦平面杜瓦组件的关键技术指标之一 通过分析影响杜瓦真空寿命的因素，建立了 适合微型杜瓦真空寿命的加速试验模型，确定了其加速应力和水平，并用实验数据的 统计分析方法对杜瓦的真空寿命可靠性分布作了进一步的估计. 关键词:微型杜瓦;真空寿命;加速寿命试验 中图分类号:TN305.5 文献标识码:A Researchon 丫乞cuum Life of入Iicro入4etalDewar ZHANGYa一ni，ZHUsan一gen，GONGHai一mei (snan动面劲