材料及现代研究方法-X射线衍射分析.ppt

3)六方晶系 代入布拉格方程得： 简单六方 当L=0时， 3.5. 多晶体分析方法 对于六方来说，只有一种阵胞，即简单阵胞 衍射面指数依次为(100)、(110)、(200)、(210)、(300)…… 3.5. 多晶体分析方法 点阵常数计算： 四方 六方 菱方晶系也有二个参数a和c，所以其指标化方法与四方晶系相似 在判断不是四方和六方晶系后，假设为菱方晶系，其比值数列的部分数列满足关系：1：4：9：16…… 其衍射面指数依次为(001)、(002)、(003) 4)菱方晶系 3.5. 多晶体分析方法 推导六方、菱方、正交及单斜晶系的X射线衍射谱指标化方法。 作业 3.5. 多晶体分析方法 3.5.3. X射线衍射在测定晶体结构中的一些应用 1) 固熔体成分的测定 预先做出合金元素含量与点阵常数关系，对未知成分试样进行点阵常数精密测量，可查出合金成分 对于固溶体，随第二组元的溶入，均改变固溶体点阵结构的点阵常数。间隙固溶体的点阵常数基本上与固溶体的成分成直线关系，而置换固溶体一般按指数规律变化。 间隙固溶体 置换固溶体 3.5. 多晶体分析方法 2) 有序和无序固溶体 对于同一材料的无序固溶体和有序固溶的X射线衍射时，在无序固溶体的衍射谱上有正常点阵的基本线条。而在有序固溶体的衍射图谱中，除了这些基本线条外，还出现一些新的衍射线条，通称为超结构线条。 3.5. 多晶体分析方法 无 序 有 序 3.5. 多晶体分析方法 3) 固溶体溶解度曲线的测定 固溶体溶解度曲线的测定方法很多，最常用的是精密测定点阵常数法，又称为参数法。 这种方法的基本原理是：当温度一定时，单相固溶体的点阵常数随固溶体成分的变化而变化(一般近似认为是线性变化)，但在双相区中，各相的成分不变，其点阵常数也不变化。 3.5. 多晶体分析方法 固溶度曲线测定 测角仪的结构原理 3.4. 多晶体分析方法 2:1的角速度比，确保探测的衍射线与入射线始终保持2θ的关系，即入射线与衍射线以试样表面法线为对称轴，在两侧对称分布。 探测器接收到的衍射是与试样表面平行的晶面产生的。 当探测器由低θ角到高θ角转动的过程中将逐一探测和记录各条衍射线的位置(2θ角度)和强度。探测器的扫描范围一般为-20o ~ +165o，可保证接收所有衍射线。 X射线的聚焦 一束X射线从S照射到试样A，O，B三点，它们的同一{HKL}衍射线都聚焦到探测器F； ∠SAF=∠SOF=∠SBF=π-2θ，设测角仪圆的半径为R，聚焦圆半径为r，则r=R/2sinθ 。 3.4. 多晶体分析方法 通常试样为平板状，当聚焦圆半径r试样被照射面积时，可近似满足聚焦条件。完全满足聚焦条件的只有O点位置，其它地方X射线能量分散在一定宽度范围内，只要宽度不太大，应用中允许。 测角仪圆的半径R不变，聚焦圆半径r是随θ的增加而逐渐减小到R/2，是时刻在变化的。 若要S、F同时又满足落在聚焦圆的圆周上，那么只有试样的曲率半径随θ角的变化而变化。这在实验中是难以做到的。 3.4. 多晶体分析方法 样品制备 粉末多晶衍射分析通常要求样品无择优取向, 在任何方向中都应有足够数量的可供测量的结晶颗粒。样品可是多晶的块、片或粉末，但以粉末最为适宜。 粉末制备：脆性物质宜用玛蹈研钵研细，粉末粒度一般要求约1-5?m，定量相分析约在0.1-2?mm。对延展性好的金属及合金，可将其锉成细粉。 衍射仪法用样品架及粉末样品制样 3.4. 多晶体分析方法 特殊样品的制备 对不宜研碎样品，可先将其锯成与窗孔大小相一致，磨平一面，再用橡皮泥或石蜡将其固定在窗孔内。对于片状、纤维状或薄膜样品也可类似地直接固定在窗孔内，应注意使固定在窗孔内的样品表面与样品板平齐。 避免或减少试样的择优取向 3.4. 多晶体分析方法 连续扫描连续扫描是指让试样和探测器以1：2角速度作匀速圆周运动，在转动过程中同时记录衍射强度，获得衍射图谱。其工作效率高，也具有一定的分辨率、灵敏度和精确度，适用于一般物相分析工作。 衍射仪的工作方式 3.4. 多晶体分析方法 CuSO4·nH2O 在 50℃，不同湿度下XRD图谱 3.4. 多晶体分析方法 b. 步进扫描又称阶梯扫描，试样每转动一定角度Δθ即停止，探测器记录衍射线的总强度，转动试样一定角度，重复测量。 可精确测定2θ和I。 应用：定量或点阵常数精确测定。 3.4. 多晶体分析方法 探测器与记录系统 X射线衍射仪可用的辐射探测器有正比计数器、盖革管、闪烁计数器、Si(Li)半导体探测器、位敏探测器等，其中常用的是正比计数器和闪烁计数器。 3.4. 多晶体分析方法 3.4. 多晶体分析方法 衍射谱标定就是要从衍射谱判断出试样所属的晶系、点阵胞类型、各衍射面指