IATF16949程序文件30测量系统分析控制程序.docxVIP

XXXXX有限公司受控状态:测量系统分析控制程序文件编号： SJ/QP-030 文件版本： B 生效日期： 2004.11.01 发文编号： 编制部门质量部审核XXX批准XXX测量系统分析1. 目的 分析每种测量和试验设备系统得出的结果中出现的变差，掌握测量过程及测量系统的变差，了解其变差的原因，以便采取纠正措施进行改进。2. 适用范围适用于《控制计划》中提及的测量系统分析及对生产线上易变动的测量系统进行复查以及用以证实产品符合规定要求的所有量具测量系统分析的管理。3.术语和定义3.1 测量：对某具体事物赋予数字（或数值），以表示它们对于特定特性之间的关系。3.2 测量系统：是对测量单元进行量化或对被测的特性进行评估，其所使用的仪器或量具、标准、操作方法、夹具、软件、人员、环境及假设的集合；也就是说，用来测量结果的整个过程。3.3 重复性：由一个评价人（操作员）采用一种测量仪器，多次测量同一个产品的同一个特性时，获得的测量结果的变差。3.4 再现性：由不同的评价人（操作员）采用相同的测量仪器测量同一个产品的同一个特性时，测量平均值的变差。3.5 稳定性（或飘移）：测量系统在某持续时间内测量同一个基准或产品某一特性时，获得的测值总变差。3.6 偏倚（准确度）：测量结果的观测平均值与基准的差值。3.7 线性：在量具预期的工作范围内，偏倚值的差值。3.8 盲测：在实际测量环境下，操作员在事先不知道正在对测量系统进行分析的情况下所进行的测试。4．职责 4.1 多方论证小组在《样件控制计划》中确定测量系统分析的项目及方法。4.2质量部负责编制《测量系统分析计划》、测量系统分析工作的实施，并出具《MSA分析报告》。4.3测量系统的使用部门配合质量保证部进行收集数据工作。5. 工作程序5.1 确定测量系统分析的项目5.1.1 质量部根据《控制计划》和日常生产中的实际情况，确定需要进行测量系统分析的监视和测量装置，编制《测量系统分析工作计划表》。5.1.2 在《测量系统分析计划》中应规定测量系统需评定的项目、评定时间、地点、检测人等。5.1.3对于同种类量具检验同种类产品，分析GRR时可采用最小公差的项目做测量系统分析。5.1.4测量系统分析的重点是特殊特性涉及的测量系统。5.1.5测量系统分析方法目前有6种，其中计量型有5种：重复性、再现性、稳定性、偏倚性和线性。计数型一种 “小样法”。5.2 测量系统分析计划5.2.1新产品开发过程中根据试生产计划由质量部制定和组织实施测量系统分析计划。批量生产时，测量系统分析的频次一般为一年一次。5.2.2 质量部负责制定测量系统分析计划经管理者代表批准后，组织各生产车间和相关部门配合实施。5.2.2.1进行测量系统分析的工作人员必须接受公司内部或外部的相关测量系统分析的统一培训/训练，并经考试合格或获得相关证书方可进行测量系统分析工作。5.3 测量和收集数据的方法5.3.1 开始工作之前筛选经常进行测量的人员作为测量员。5.3.2 测量员应在开始之前讨论测量方法，包括样件抽取、量具操作方法并统一认识。5.3.3 测量应尽可能在与生产中测量时相同的环境中进行。5.3.4 测量前应对选定样件加以编号。编号不得让测量人员看见，以免影响结果的公正性（盲测）。5.2.5 让测量人员分别盲测被测试的样件并记录测量值。5.3 重复性和再现性分析（GRR）5.3.1确定研究对象、工序、量具、产品和质量特殊性采用下列方法进行分析，但对测量系统的重复性和再现性分析前，必须对被分析的量具进行零件的评价人平均值和重复性极差分析，同时分析结果必须受控方可进行重复性、再现性的分析工作，否则测量系统不能检查出零件的变差，且不能用于过程控制中。5.3.2若有一半以上或更多的平均值落在控制限之外，则该测量系统足以检查出零件间变变差的。若有一半以下的平均值落在控制限之外，则该测量系统不中以检查出零件间变差，并且不能用于过程控制，也不能用于测量系统的再现性和重复性分析工作。5.3.3 均值极差法（X~R）5.3.3.1 选择3个操作员抽取10个样品进行盲测，每个操作员对同一样品的同一特性重复测量3次；5.3.3.2 将测量结果记录在《量具重复性和再现性数据表》上；5.3.3.3 负责组织此项研究的人员，依据数据表和质量特性规格，按标准规定的格式出具《量具重复性和再现性报告》。5.3.5.4 结果分析 A．当重复性（EV）变异值大于再现性（AV）时，可采用下列措施：增强量具的设计结构。改善量具的使用方式。对量具进行保养。B．当再现性（AV）变异值大于重复性（EV）时应考虑：修订作业标准，加强对操作员的操作技能培训。是否需采用夹具协助操作，以提高操作的一致性。量具校准后再进